編號(hào)：FTJS00207
篇名：納米復(fù)合粉體制備壓敏陶瓷的晶界相變及穩(wěn)定性
作者：康雪雅 涂銘旌等
關(guān)鍵詞：納米復(fù)合材料 壓敏陶瓷 晶界相變 穩(wěn)定性
機(jī)構(gòu)： 中國(guó)科學(xué)院新疆物理所,，新疆烏魯木齊830011 四川大學(xué)材料工程系，四川成都610065
摘要： 研究了納米復(fù)合壓敏陶瓷粉體制備的微型壓敏芯片在不同溫度退火前后電性能的穩(wěn)定性,，不同退火溫度下晶界相結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變,；研究確定了晶界耗盡層間隙鋅離子的缺陷類(lèi)型、缺陷密度與退火溫度的關(guān)系,，在此基礎(chǔ)上提出了對(duì)穩(wěn)定性做出貢獻(xiàn)的晶界相變和間隙鋅離子遷移的復(fù)合模型,。
出處：電子元件與材料.2003,22(1).-13-16
