編號：CPJS01070
篇名：硫酸電解液濃度對多孔氧化鋁膜的影響
作者：王曉燕； 翟秀靜,； 張廷安,； 符巖； 鄭雙,；
關鍵詞：H2SO4電解液,； 陽極氧化； 電解液濃度,； 有序度,；
機構： 東北大學； 沈陽航空工業(yè)學院,；
摘要： 在H2SO4電解液中對高純鋁箔進行陽極氧化,考察分析了電解液濃度對多孔陽極氧化鋁膜的影響,結果表明:隨硫酸電解液濃度的增加,納米孔孔徑逐漸增大,孔密度降低,孔的有序性先提高后降低;采用23 V直流電壓進行陽極氧化,電解液濃度為0.6~1.0 mol/L時制得的氧化鋁膜孔徑均勻性及有序度均較好,尤其以0.8 mol/L H2SO4最佳;陽極氧化鋁膜的厚度隨電解液濃度的提高而增大;電解液濃度過高易于將鋁箔快速擊穿,。
