編號：NMJS02226
篇名：X射線Rietveld方法在納米材料研究領(lǐng)域的應(yīng)用
作者：周玉華,； 宋武林,； 柯莉,； 曾小川,； 謝長生,；
關(guān)鍵詞：納米材料,； X射線Rietveld,； 結(jié)構(gòu)精修,； 定量分析,； 微結(jié)構(gòu)分析,；
機(jī)構(gòu)： 華中科技大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院模具技術(shù)國家重點實驗室； 華中科技大學(xué)分析測試中心,；
摘要： 納米材料由于獨特的微結(jié)構(gòu)和奇異性能成為當(dāng)今世界范圍內(nèi)研究與開發(fā)的熱點,。鑒于Rietveld方法在常規(guī)固體材料方面廣泛而成功的應(yīng)用,將Rietveld方法引入到納米研究領(lǐng)域具有重要的意義。簡要介紹了Rietveld方法的基本原理及其在納米材料的晶體結(jié)構(gòu)精修,、物相定量分析和微結(jié)構(gòu)分析等方面的應(yīng)用,。
