編號(hào)：NMJS02053
篇名：NIST研究提高納米粒子安全性評(píng)估的新方法
作者：何芳；
關(guān)鍵詞：納米粒子； 新方法,； 技術(shù)研究,； 細(xì)胞培養(yǎng)； 美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),； 安全性評(píng)估； 內(nèi)細(xì)胞； 科學(xué)家,； 釋放； 俘獲,；
機(jī)構(gòu)：
摘要： <正>目前,美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院(NIST)的專家研究出一種方法—"俘獲和釋放"程序來(lái)控制納米粒子,。該方法是采用微弱的電流來(lái)影響納米粒子的性能,使得科學(xué)家可以對(duì)暴露的納米粒子進(jìn)行細(xì)胞培養(yǎng),并觀察其細(xì)胞如何反應(yīng),這樣可以獲得細(xì)胞
