編號(hào)：NMJS00935
篇名：半導(dǎo)體納米線(xiàn)的原位應(yīng)變研究
作者：王巖國(guó);
關(guān)鍵詞：原位電子顯微鏡; 半導(dǎo)體納米線(xiàn); 設(shè)計(jì); 控制;
機(jī)構(gòu)： 中國(guó)科學(xué)院物理研究所;
摘要： 利用原位電子顯微方法對(duì)半導(dǎo)體納米線(xiàn)進(jìn)行了原位應(yīng)變研究,結(jié)果表明:在軸向壓應(yīng)力的作用下,ZnSe納米線(xiàn)可以發(fā)生明顯的塑性形變,導(dǎo)致納米線(xiàn)發(fā)生大應(yīng)變,。通過(guò)在納米尺度上控制壓力探針位移的精度,可實(shí)現(xiàn)對(duì)納米線(xiàn)應(yīng)變的準(zhǔn)確控制,進(jìn)而達(dá)到納米線(xiàn)應(yīng)變量的可設(shè)計(jì)性和可控制性,。
