編號：NMJS00481
篇名：Ga和Sb納米線聲子結(jié)構(gòu)和電子-聲子相互作用的第一性原理研究
作者：孫偉峰; 李美成; 趙連城;
關(guān)鍵詞：第一性原理; 能帶結(jié)構(gòu); 納米線; 電子-聲子耦合;
機構(gòu)： 哈爾濱工業(yè)大學(xué)信息材料科學(xué)與技術(shù)系;
摘要： 基于密度泛函理論的第一性原理方法,系統(tǒng)研究了Ga和Sb納米線的電子能帶結(jié)構(gòu)和聲子結(jié)構(gòu)以及電子-聲子耦合(EPC)作用.通過對聲子的完整Brillouin區(qū)分析來研究納米線的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性.結(jié)果表明,所考察的納米線顯示出不穩(wěn)定性,不穩(wěn)定聲子波矢遠離Brillouin區(qū)中心.與通常的Peierls變形機理相比,不穩(wěn)定的橫向聲子模會導(dǎo)致一種無開口帶隙的相變.Sb比Ga納米線的EPC要強很多,并且橫向變形導(dǎo)致的鋸齒形結(jié)構(gòu)使納米線中的電子-聲子相互作用增加了幾個數(shù)量級,。
