編號：CYYJ02252
篇名：碳化硅納米棒的表面聲子極化激元調(diào)控
作者：李躍輝 亓瑞時(shí) 時(shí)若晨 李寧 高鵬
關(guān)鍵詞： 電子能量損失譜 掃描透射電鏡 形狀效應(yīng) 表面聲子 納米棒 模擬和實(shí)驗(yàn) 納米結(jié)構(gòu) 碳化硅
機(jī)構(gòu)： International Center for Quantum Materials Electron Microscopy Laboratory Collaborative Innovation C
摘要： 表面聲子極化激元的頻率一般在紅外和太赫茲波段,在亞波長控制和調(diào)控方面有非常大的應(yīng)用潛力,因此研究它們在納米結(jié)構(gòu)中的行為對減小器件尺寸是非常必要的.本文利用最新的掃描透射電鏡電子能量損失譜技術(shù),研究了碳化硅納米棒的尺寸和形狀效應(yīng).研究發(fā)現(xiàn)不同截面的納米棒,其表面聲子極化激元的頻率和空間分布有很大不同.隨著納米棒直徑減小,表面聲子極化激元頻率出現(xiàn)明顯的紅移,且倏逝場的分布范圍更廣.對于截面形狀變化的納米棒,倏逝場傾向于分布在截面面積較小的區(qū)域,理論模擬和實(shí)驗(yàn)結(jié)果都證實(shí)了這一點(diǎn).因此,我們可以通過改變納米棒的截面形狀和尺寸來調(diào)控表面聲子極化激元的頻率和空間分布,設(shè)計(jì)新型的納米尺寸的光子學(xué)器件.
