塑料薄膜基上鍍納米SiOx涂層的表征及性能研究

編號：NMJS00292

篇名：塑料薄膜基上鍍納米SiOx涂層的表征及性能研究

作者：張改梅; 陳強(qiáng); 何存富; 朱惠欽;

關(guān)鍵詞：SiOx薄膜; 阻隔性; 超聲原子力顯微鏡; 表征;

機(jī)構(gòu)： 北京印刷學(xué)院印刷與包裝工程學(xué)院; 北京工業(yè)大學(xué);

摘要： 本文利用等離子體氣相化學(xué)沉積(PECVD)的方法,在聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)和雙向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜上制備了納米厚度的SiOx涂層,。使用傅里葉變換紅外光譜(FTIR),、原子力顯微鏡(AFM)和超聲原子力顯微鏡(UAFM)對納米厚度的SiOx薄膜進(jìn)行表征。利用AFM和UAFM,可以得到SiOx薄膜的形貌和超聲幅值成像,。尤其是本文使用的新方法UAFM,可以表征表面和次表面缺陷,。同時(shí),本文實(shí)驗(yàn)研究了,鍍SiOx的PET和BOPP薄膜的拉伸性能,、接觸角和阻隔性。結(jié)果表明,SiOx涂層提高了塑料薄膜的阻隔性,、拉伸性能,。