編號：NMJS06290
篇名：Ag@Pt核殼結(jié)構(gòu)納米粒子催化劑在電催化過程中的失效分析
作者：陳珂 ;紀(jì)箴 ;張一帆 ;賈成廠 ;楊善武
關(guān)鍵詞： 納米復(fù)合材料 納米顆粒 催化劑 失效 空化 電催化 伏安掃描
機(jī)構(gòu)： 北京科技大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,北京100083
摘要： 通過種子生長法和自組裝技術(shù)合成Ag@Pt核殼結(jié)構(gòu)納米粒子（以下簡稱Ag@Pt粒子）,測量和比較在電催化循環(huán)伏安掃描（以下簡稱CV掃描）過程中失效前后的Ag@Pt粒子對甲醇的電催化性能的變化,采用透射電鏡,、高分辨電鏡,、X射線光電子能譜等方法研究其失效機(jī)理.結(jié)果表明：Ag@Pt粒子在循環(huán)伏安掃描的過程中會發(fā)生空化現(xiàn)象,其臨界電壓為0.5 V,空化現(xiàn)象隨時間的增長而變得明顯;Ag@Pt粒子空化后形成由Ag包覆空心Pt殼的納米粒子,這是導(dǎo)致其在對甲醇進(jìn)行電催化氧化過程中催化性能明顯下降的原因.
