編號：NMJS06108
篇名：基于動態(tài)光散射的SiO2/H2O納米流體分散穩(wěn)定性初探
作者：申韶磊 ;畢勝山 ;胡豐凡 ;譚益農(nóng) ;馬綸建 ;崔軍衛(wèi) ;吳江濤
關(guān)鍵詞：動態(tài)光散射 納米流體 黏度 顆粒粒徑
機構(gòu)： 西安交通大學熱流科學與工程教育部重點實驗室能源與動力工程學院,西安710049
摘要： 基于動態(tài)光散射法,采用同差探測實現(xiàn)了納米流體分散體系的粒度測量,。對體積分數(shù)為0.005%和0.0025%濃度的SiO2/H2O納米流體顆粒粒徑進行了測量,粒徑的實驗值的平均偏差分別為1.37%和1.39%,可以滿足納米顆粒粒徑的高精度測量要求。兩種濃度的SiO2/H2O納米流體的平均粒徑基本一致,偏差在實驗的不確定度以內(nèi),且隨時間無明顯變化,證明了顆粒分散的穩(wěn)定性,本方法可以用于納米流體分散穩(wěn)定性的評價,。
