編號：CPJS04328
篇名：微納米鐵粉熱穩(wěn)定性實(shí)驗研究
作者：劉娓[1] ;金晶[1,2] ;高文靜[1] ;趙慶慶[1] ;張盈文[1] ;劉磊[1] ;
關(guān)鍵詞：微納米 熱穩(wěn)定性 晶粒長大 微觀應(yīng)變
機(jī)構(gòu)： [1]上海理工大學(xué)能源與動力工程學(xué)院; [2]上海理工大學(xué)協(xié)同創(chuàng)新研究院;
摘要： 利用管式電阻爐和X射線衍射儀(XRD)實(shí)施了對恒溫退火處理100,、200、300和500 nm 4種粒徑的微納米鐵粉熱穩(wěn)定特性實(shí)驗研究,通過函數(shù)擬合衍射峰圖譜計算其微觀應(yīng)變,分析退火過程中微納米鐵粉晶粒長大現(xiàn)象,。結(jié)果表明:微觀應(yīng)變的大小和晶粒長大過程密切相關(guān),隨著退火溫度升高,微觀應(yīng)變逐漸減小,晶粒尺寸增大,。100、200和300 nm微納米鐵粉200℃以下晶粒長大迅速,200℃以上長大速度減小;500 nm鐵粉晶粒200℃以下長大速度比較緩慢,200℃以上晶粒迅速長大,。低溫下大粒徑鐵粉熱穩(wěn)定性優(yōu)于小粒徑鐵粉,。
