編號(hào)：FTJS06038
篇名：X射線熒光光譜法同時(shí)測(cè)定鋁土礦樣品中鋁硅鐵
作者：張巖[1]
關(guān)鍵詞：X射線熒光光譜法 鋁土礦 鋁硅鐵 測(cè)定
機(jī)構(gòu)： [1]河南省地質(zhì)礦產(chǎn)勘查開(kāi)發(fā)局第二地質(zhì)礦產(chǎn)調(diào)查院,河南鄭州450001
摘要： 近年來(lái)，隨著社會(huì)的不斷進(jìn)步以及經(jīng)濟(jì)的迅猛發(fā)展,，科技水平顯著提升,，X射線熒光光譜分析應(yīng)運(yùn)而生，其優(yōu)勢(shì)在于樣品制作便捷且自動(dòng)化程度較高,、可實(shí)現(xiàn)成本節(jié)約,、分析精度良好等，在礦山以及地質(zhì),、石油,、冶金、商檢籍建材等多領(lǐng)域中獲得普及使用,。作為氧化鋁生產(chǎn)的關(guān)鍵原材料,，鋁土礦的重要性不容忽視，在其樣品測(cè)定過(guò)程中可優(yōu)化應(yīng)用X射線熒光光譜分析法,，經(jīng)濟(jì)效益十分顯著,。在此，本文將針對(duì)X射線熒光光譜法測(cè)定鋁土礦樣品成分鋁硅鐵進(jìn)行簡(jiǎn)要探討,。
