編號：NMJS05589
篇名：納米晶體金剛石涂層／拋光坐標測量機（CMM）測量探爭可降低磨損和提高尺寸精度
作者：張貝貝[1]
關鍵詞：金剛石涂層工具 坐標測量機 納米晶體 尺寸精度 磨損 拋光 特種氧化鋁 特種材料
機構(gòu)： [1]邁耶爾什金剛石制品解決方案公司 荷蘭
摘要： 航空航天等工業(yè)領域開始越來越多地使用特種材料，如加強碳,、復合陶瓷和特種氧化鋁等,。盡管已經(jīng)可以使用金剛石涂層工具加工這些新材料，但在生產(chǎn)和最終控制階段都要對這些新材料進行測量�,，F(xiàn)有的CMM測量探測器主要使用紅寶石和硬質(zhì)合金,，用現(xiàn)有標準掃描測量方法的話，磨損太快,，探針每3天需要更換,，生產(chǎn)會被迫中斷，需要等待探針重新校準,。荷蘭金剛石制品解決方案公司開發(fā)的一種納米晶體金剛石涂層拋光的測量探頭,，可最小化這些缺點（圖片1）。現(xiàn)在,，它們被用在條件非常嚴苛的環(huán)境下,，像被用來測量復合陶瓷、磨削后的球軸承,、硬化錐齒輪,、微晶玻璃、鎳涂層鋁鏡面和其他特種材料等,。
