編號：FTJS05884
篇名：差示光度法測定高嶺土及黏土中的二氧化硅
作者：楊小燕[1] ;田耀[1] ;何小東[1]
關(guān)鍵詞：二氧化硅 示差光度法 高嶺土 黏土
機構(gòu)： [1]河南省地質(zhì)礦產(chǎn)勘查開發(fā)局第一地質(zhì)礦產(chǎn)調(diào)查院,河南洛陽471023
摘要： 本文以氫氧化鉀為溶劑分解試樣,，以含 EDTA 的稀鹽酸浸取熔塊,，用鉬藍(lán)差示光度法測定高嶺土、黏土中的二氧化硅,。選取相應(yīng)的標(biāo)樣繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線,，采用分段比色，以一定濃度的二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)溶液做參比繪制工作曲線,，降低光度法的測定誤差,，該法不僅有效降低了基體效應(yīng)的影響，且相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD,，n=10）＜1％,，具有樣品處理簡便、快捷,，測試線性范圍寬,，重現(xiàn)性好，結(jié)果準(zhǔn)確,、可靠等優(yōu)點,。經(jīng)一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)驗證，測定結(jié)果與推薦值相符,，滿足地質(zhì)礦產(chǎn)實驗室測試質(zhì)量管理規(guī)范的要求,，可以用于高嶺土，黏土中硅的測定,。
