編號(hào)：NMJS05190
篇名：高密度聚乙烯-蒙脫土納米復(fù)合材料微結(jié)構(gòu)的正電子研究
作者：連媛,； 王紅梅； 陳喆,；
關(guān)鍵詞：高分子納米復(fù)合材料,； 接枝； 正電子湮沒； 自由體積,；
機(jī)構(gòu)： 嘉興學(xué)院材料與紡織工程學(xué)院,； 嘉興學(xué)院生物與化學(xué)工程學(xué)院； 武漢工程大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,；
摘要： 正電子湮沒技術(shù)作為一種無損的微結(jié)構(gòu)檢測(cè)方法在高分子/層狀硅酸鹽納米復(fù)合材料中具有廣泛的應(yīng)用前景,。本研究利用正電子湮沒壽命譜學(xué)方法,對(duì)丙烯酸接枝前后高密度聚乙烯和蒙脫土的納米復(fù)合材料的微結(jié)構(gòu)進(jìn)行了表征。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),丙烯酸的接枝導(dǎo)致了o-Ps強(qiáng)度的減小,。納米復(fù)合材料中o-Ps強(qiáng)度及o-Ps壽命分布隨蒙脫土含量增加的變化,證實(shí)了極性丙烯酸基團(tuán)優(yōu)先進(jìn)入了蒙脫土片層之中,。
