編號(hào)：FTJS05124
篇名：直流輝光放電質(zhì)譜法測(cè)定高純氧化鑭中25種雜質(zhì)元素
作者：胡芳菲,； 王長(zhǎng)華,； 李繼東,；
關(guān)鍵詞：直流輝光放電質(zhì)譜法； 高純氧化鑭,； 雜質(zhì)元素；
機(jī)構(gòu)： 北京有色金屬研究總院,；
摘要： 利用銅粉作為導(dǎo)電介質(zhì),與氧化鑭粉末混合均勻,壓片,采用直流輝光放電質(zhì)譜法(dcGDMS)測(cè)定了高純氧化鑭粉末中的部分雜質(zhì)元素含量,。考察了輝光放電條件,如放電電流,、放電氣體流量,、離子源溫度以及壓片條件,如兩種粉末的混合比例、壓片機(jī)壓力等因素對(duì)放電穩(wěn)定性以及靈敏度的影響,優(yōu)化了實(shí)驗(yàn)條件;嘗試了將鑭,氧和銅的總信號(hào)歸一化進(jìn)行計(jì)算的方法,用差減法計(jì)算了高純氧化鑭粉末中的雜質(zhì)元素含量,。將銅粉作為試劑空白,連續(xù)測(cè)定11次,統(tǒng)計(jì)各待測(cè)元素檢出限為0.005~0.34μg/g;對(duì)高純氧化鑭粉末樣品獨(dú)立測(cè)定6次,測(cè)定結(jié)果與電感耦合等離子體質(zhì)譜法基本吻合,相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差在20%以內(nèi),。
