編號：FTJS04626
篇名：X射線熒光光譜法測定鈦白粉樣品中10種微量元素
作者：寸鳳妹,； 李小莉,；
關(guān)鍵詞：X； 射線熒光光譜法,； 鈦白粉樣品,； 微量元素,；
機(jī)構(gòu)： 越鋼控股集團(tuán)有限公司； 天津地質(zhì)礦產(chǎn)研究所,；
摘要： 采用粉末壓片,用Axios XRF光譜儀測定鈦白粉品中Sb,、Nb、Zr,、Fe,、S、P,、K,、Si、Al和Te 10種微量元素,。以標(biāo)準(zhǔn)樣品的配置和樣品的制備為重點(diǎn),在鈦白粉樣品中加入一定量的甲基纖維素混勻,、壓片,樣品表面光滑、平整,�,？朔擞免伆追蹣悠分苯訅浩�,由于樣品粘性較大不僅粘模具,而且樣片表面凹凸不平的缺點(diǎn)。用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)和RhKα線的康普頓散射線作內(nèi)標(biāo)校正基體效應(yīng),方法簡便,、快速,、準(zhǔn)確,分析結(jié)果準(zhǔn)確度能滿足工廠質(zhì)量監(jiān)控要求。
