編號(hào)：NMJS04622
篇名：激光偏振干涉納米定位系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)驗(yàn)研究
作者：許素安； 錢飛,； 謝敏,； 黃艷巖； 富雅瓊,； 陳樂(lè),； 孫堅(jiān)
關(guān)鍵詞：偏振干涉； 定位控制,； 實(shí)驗(yàn)研究,； 誤差分析
機(jī)構(gòu)： 中國(guó)計(jì)量學(xué)院機(jī)電學(xué)院
摘要： 為適應(yīng)工業(yè)發(fā)展和計(jì)量界對(duì)精密定位提出的越來(lái)越高的要求,提出了基于偏振激光干涉技術(shù)的納米定位方法。在該干涉測(cè)長(zhǎng)系統(tǒng)中,用偏振計(jì)取代傳統(tǒng)單頻激光干涉儀的光電傳感器并配置偏振分光元件,、起偏鏡等,可將干涉儀出射光的干涉條紋相位細(xì)分為36 000份,使用波長(zhǎng)為633 nm的激光源,可將理論測(cè)量分辨率提高到10 pm,。將完成的偏振干涉測(cè)長(zhǎng)系統(tǒng)與商用SIOS干涉儀的實(shí)驗(yàn)測(cè)量結(jié)果做了比對(duì)。對(duì)完成的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的各誤差源做了實(shí)驗(yàn)研究,得到量化值,。經(jīng)不確定度評(píng)估計(jì)算,在標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件下,對(duì)于微米級(jí)行程的位移,其位置測(cè)量不確定度小于1.4 nm,。該方法可應(yīng)用于納米定位的各個(gè)領(lǐng)域。
