編號(hào)：NMJS04324
篇名：核殼結(jié)構(gòu)Ag/SiO2復(fù)合納米材料的制備及性能研究
作者：王超男； 方靖淮；
關(guān)鍵詞：Ag/SiO2,； 核殼結(jié)構(gòu),； 復(fù)合納米材料； 表面等離子體共振,； 紫外-可見吸收光譜； 表面增強(qiáng)拉曼散射；
機(jī)構(gòu)： （南通大學(xué) 理學(xué)院,； 江蘇 南通 226007）；
摘要： 首先采用檸檬酸三鈉還原法制備Ag納米顆粒,，然后通過正硅酸四乙酯（TEOS）的水解縮聚在其表面直接生長SiO2,，制備核殼結(jié)構(gòu)的Ag/SiO2復(fù)合納米顆粒。SEM-EDS分析表明,，SiO2包覆層顯著改善了納米顆粒的分散性,。紫外-可見吸收光譜顯示,，Ag/SiO2的表面等離子體共振（SPR）吸收峰受殼層厚度的影響，并且對周圍介質(zhì)表現(xiàn)出良好的敏感性,。表面增強(qiáng)拉曼散射（SERS）光譜顯示殼厚達(dá)幾十納米的Ag/SiO2仍對結(jié)晶紫的拉曼信號(hào)具有增強(qiáng)作用,，表明SiO2層中存在孔洞結(jié)構(gòu)，有利于提高Ag/SiO2對周圍介質(zhì)的敏感性,。
