編號(hào)：NMJS03882
篇名：納米線減反層的解析設(shè)計(jì)法
作者：朱兆平； 秦亦強(qiáng)
關(guān)鍵詞：零級(jí)衍射光柵； 有效介質(zhì)理論,； 太陽(yáng)能電池減反,； 納米線陣列
機(jī)構(gòu)： 南京大學(xué)現(xiàn)代工程與應(yīng)用科學(xué)學(xué)院,南京大學(xué)光伏工程中心,南京大學(xué)固體微結(jié)構(gòu)物理國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室
摘要： 本文通過(guò)分析比較給出了常用二維等效介質(zhì)理論解析解的適用條件并且將有效介質(zhì)理論的適用范圍推廣至零級(jí)衍射邊界處,并通過(guò)FDTD模擬驗(yàn)證了該解析方法的準(zhǔn)確性.這不僅解決了長(zhǎng)期以來(lái)沒(méi)有精確二維有效介質(zhì)理論(2D-EMT)解析解的困境,而且使得直接用解析公式設(shè)計(jì)和定量解釋減反微結(jié)構(gòu)的減反效果變得可能,有著廣泛的應(yīng)用前景.
