編號：NMJS03778
篇名：SnO2納米線制備及缺陷態(tài)發(fā)光研究
作者：秦磊,； 范毅杰,； 宮戀； 于紀燁,； 戴俊
關(guān)鍵詞：二氧化錫,； 納米結(jié)構(gòu),； 缺陷態(tài)
機構(gòu)： 江蘇科技大學數(shù)理學院
摘要： 利用氣相傳輸法制備二氧化錫納米線,通過X射線衍射(XRD)和掃描電子顯微鏡(SEM)及高分辨透射電子顯微鏡(TEM)對產(chǎn)物晶體結(jié)構(gòu),、形貌和微結(jié)構(gòu)進行了表征.該樣品熒光光譜中主要包含兩個發(fā)光帶,分別位于360 nm及445 nm.X射線光電子能譜(XPS)結(jié)果顯示該納米結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的藍色缺陷態(tài)輻射主要源于氧空位產(chǎn)生的缺陷態(tài)深能級.
