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低壓化學氣相沉積生長雙層石墨烯及其電輸運特性研究

編號:FTJS03577

篇名:低壓化學氣相沉積生長雙層石墨烯及其電輸運特性研究

作者:曾亭; 吳革明; 趙鴻濱,; 楊萌萌,; 魏峰,; 杜軍,;

關鍵詞:石墨烯,; 低壓化學氣相沉積法,; Raman光譜,; 光刻和刻蝕,; 退火; 輸運特性,;

機構: 北京有色金屬研究總院先進電子材料研究所,; 北京有色金屬研究總院國家半導體材料工程研究中心;

摘要: 采用低壓化學氣相沉積法(LPCVD)以銅箔為生長襯底來制備石墨烯,。XRD表征得石墨烯生長前后銅箔襯底主要為(100)晶面,而且銅箔在高溫下退火晶粒明顯長大有利于高質量石墨烯的生長,。拉曼光譜表明所制備的石墨烯為雙層結構。通過轉移,、刻蝕等工藝制備了石墨烯場效應晶體管(G-FET)原型器件,其轉移特性曲線(IDS-VGS)表明所制備的石墨烯表現(xiàn)為p型輸運特性,。在器件中石墨烯的XPS圖譜說明了石墨烯吸附有有機物基團,導致p型特性的部分原因。同時本文研究了真空退火對G-FET器件性能的影響,結果表明:退火溫度為200℃時,G-FET的空穴載流子遷移率最佳;而隨著溫度增加,開關比(ON-OFF ratio)在不斷減小,載流子遷移率迅速在降低,。

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