編號：CSJS00074
篇名：鋁電解質(zhì)分子比,、Al_2O_3,、CaF_2的X射線熒光光譜法測定
作者：林九,； 喻小春,； 趙海兵,； 王玉杰,；
關(guān)鍵詞：X射線熒光光譜法,； 鋁電解質(zhì),； 檢測；
機構(gòu)： 江蘇大屯鋁業(yè)有限公司,；
摘要： 鋁電解質(zhì)分子比,、Al2O3、CaF2是鋁電解生產(chǎn)中的幾項重要指標(biāo),。用X射線熒光光譜法測定電解質(zhì)中各元素的濃度,達(dá)到計算分子比,、測試氧化鋁和氟化鈣濃度的目的。將研磨到一定粒度的樣品在30kN的壓力下壓成圓片,然后在優(yōu)化的熒光測試條件下進行測定,采用電解質(zhì)標(biāo)樣建立校準(zhǔn)曲線,引入數(shù)學(xué)模型校正基體效應(yīng),扣除背景干擾,得到可以用于指導(dǎo)生產(chǎn)的各項理化指標(biāo)結(jié)果,。該方法已用于多元鋁電解質(zhì)成分的測定,分子比,、CaF2的測定結(jié)果與化學(xué)定值相近,Al2O3的測試結(jié)果與化學(xué)定值有最大0.20%的誤差,但對于電解生產(chǎn)中氧化鋁濃度的模糊控制并無大方面的影響,同樣適用于指導(dǎo)生產(chǎn)。
