編號：CSJS00070
篇名：用動態(tài)光散射時間相干度法測量納米顆粒粒徑
作者：楊暉,； 鄭剛,； 張仁杰；
關(guān)鍵詞：納米顆粒粒徑測量； 動態(tài)光散射,； 時間相干,；
機構(gòu)： 上海理工大學(xué)光電信息與計算機工程學(xué)院,；
摘要： 針對傳統(tǒng)動態(tài)光散射法測量納米顆粒粒徑算法復(fù)雜,、速度慢、成本高等問題,提出了一種通過改變動態(tài)散射光信號時間相干度來測量納米顆粒粒徑的方法,并對其所采用的算法和測量系統(tǒng)進行研究,。首先,介紹了動態(tài)光散射測量法的基本原理,并引出系統(tǒng)相干度的概念(包括時間相干因子和空間相干因子),。接著,從光電探測器的統(tǒng)計特性出發(fā),通過對光子計數(shù)方差的分析得到散射光強波動的方差。然后,建立光強波動的方差與時間相干度的方程,并由該方程得到動態(tài)光散射信號的衰減線寬,。最后,根據(jù)Stokes-Einstein公式計算出納米顆粒的粒徑,。對粒徑為30,50,100 nm,溶液透光率為96%的乳膠球標準顆粒溶液進行了實驗,結(jié)果表明:本文提出的測量法其測量均值誤差和重復(fù)性誤差的平均值分別為1.84%和1.76%,滿足均值誤差和重復(fù)性誤差小于2%的國標要求。
