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鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司 2022-11-15 點(diǎn)擊822次
綜述：
無(wú)鉛錫基微焊球是微電子專用焊接材料,。隨著電子電器產(chǎn)品微型化、高性能發(fā)展,，電子封裝密度越來(lái)越高，無(wú)鉛焊料的可靠性要求越來(lái)越高,。其中球形度,、直徑尺寸,、尺寸分布、球體表面工藝缺陷,、環(huán)境試驗(yàn)特征缺陷檢查都需要大量掃描電鏡測(cè)試,。
儀器介紹：
EM科特掃描電鏡分為CUBE系列、GENESIS系列,、VERITAS系列,。
試驗(yàn)方法：
鋁制樣品托，碳雙面導(dǎo)電膠帶粘取一層粉體,，一次放入 7 個(gè)樣品托,。使用條件 20kv，快速高信噪比觀察模式,。1024X768 像素照相時(shí)間 10s
結(jié)果討論：
錫球掃描電鏡檢測(cè)關(guān)鍵項(xiàng)目,，使用 E‐T 型二次電子探測(cè)器，具有高帶寬,，搜索速度快,，并可獲得大景深形貌圖像； 且對(duì)二元合金的成分分布比較清晰表征,；對(duì)微米亞微米尺度破損缺陷形貌特征清晰表征,；環(huán)境試驗(yàn)產(chǎn)生的缺陷，如納米級(jí)白點(diǎn),，只有用二次電子可觀察到,，背散射電子探測(cè)器則無(wú)能為力。
高清圖像：14420X
3200X1600 像素,，照相時(shí)間 32s
觀察球形度,、尺寸分布 10kx 2kx
觀察球形度、尺寸分布缺陷 10kx 2kx
表面缺陷,、球形度 10kx 2kx
二元合金表面工藝缺陷,、球形度、10kx 2kx
環(huán)境試驗(yàn)失效缺陷：納米級(jí)白點(diǎn) 10kx 4kx
環(huán)境試驗(yàn)失效缺陷：納米級(jí)白點(diǎn) 25kx 10kx
二元錫基合金焊粉形貌和成分反差 2kx 10kx