
儒亞科技(北京)有限公司

已認(rèn)證
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CPS納米粒度分析儀,有別于傳統(tǒng)方法,,通過差示離心沉降原理為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案
這種原理有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢:
分辨率高:
同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法等方法比較,,該方法有非常高的分辨率,。對于只有 1%的顆粒差異分布的時(shí)候,該方法測定的結(jié)果仍然有好的分離效果,。您能看到的是顆粒分布本身,,而不是分布顆粒的混合圖。
靈敏度高:
低至 10-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要,。
重復(fù)性高:
樣品結(jié)果在95%的典型置信度下,,連續(xù)重復(fù)分析峰的重復(fù)性小 于+/-1% 或更好。
快速,、高精度數(shù)模(A/D)轉(zhuǎn)換:
可用信號(hào)分辨率(即軟件操作的對象)決定于 數(shù)模轉(zhuǎn)換的過程,。CPS系統(tǒng)使用的數(shù)模 轉(zhuǎn)換 可以實(shí)現(xiàn)在每秒31次取樣時(shí)保持20位以上的精 度,幾百萬分之一的誤差,。
CPS高精度納米粒度儀的技術(shù)優(yōu)勢
CPS納米粒度分析儀?分辨率很高,,它有效地結(jié)合了高速離心沉降(ZG24000轉(zhuǎn)/分)和激光法的優(yōu)點(diǎn),使得整個(gè)儀器能夠達(dá)到極高的分辨率,,優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性.
同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法比較,,該方法有非常高的分辨率,能夠輕松鑒別雜質(zhì)顆粒,,污染顆?;蛘咄鈦眍w粒。半峰寬為峰值粒度 1%,,也就是說對于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個(gè)粒度峰,,該儀器都可以有效地檢測并區(qū)分開來。儀器的分辨率如此高,,得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響,,測量終得到的是真實(shí),、可靠的顆粒分布。
極高的靈敏度, 低于10-8 g 活性樣品可以得到,,少可以分析小于毫克乃至微克級(jí)的樣品,。
高度可重復(fù)性的樣品結(jié)果; 連續(xù)重復(fù)分析峰的重復(fù)性小于±1% 或更好。
連續(xù)的離心操作,;在分析連續(xù)樣品的時(shí)候,,不需要儀器停止來清洗,需要極少的人工,。
和傳統(tǒng)沉降法比較,,更快的分析時(shí)間。速度的優(yōu)勢是基于更快的圓盤轉(zhuǎn)速以及更快的儀器檢測器響應(yīng),。采用多階速度,,分析速度可以小于通常情況下的1/20。
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