
國儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司

已認證
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SEM3200是一款高性能,、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量,、可兼容低真空模式,、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。
大景深,,成像富有立體感,。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索,。
碳材料樣品,,低電壓下,,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實形貌,,細節(jié)更豐富,。 毛發(fā)樣品,在低電壓下,,電子束輻照損傷減小,,同時消除了荷電效應(yīng),。 過濾纖維管材料,,導(dǎo)電性差,在高真空下荷電明顯,,在低真空下,,無需鍍膜即可實現(xiàn)對不導(dǎo)電樣品的直接觀察,。 生物樣品,采用大視場觀察,,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細節(jié),,展現(xiàn)跨尺度分析。 想看哪里點哪里,,導(dǎo)航更輕松 可通過雙擊移動,、鼠標中鍵拖動、框選放大,,進行快捷導(dǎo)航 采取多維度的防碰撞方案: 直觀反映整個視野的像散程度,,通過鼠標點擊清晰處,可快速調(diào)節(jié)像散至**,。 一鍵聚焦,,快速成像,。 一鍵消像散,提高工作效率,。 一鍵自動亮度對比度,,調(diào)出灰度合適圖像。 SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像,??赏瑫r觀察到樣品的形貌信息和 拖動一條線,,圖像立刻“擺正角度”,。 掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析,。 背散射電子成像模式下,,荷電效應(yīng)明顯減弱,,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。 鍍層樣品: 鎢鋼合金樣品: 探測器設(shè)計精巧,,靈敏度高,,采用4分割設(shè)計,無需傾斜樣品,,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像,。 四個單通道的陰影像 成分像 LED小燈珠能譜面分析結(jié)果。 鎢燈絲電鏡束流大,,完全滿足高分辨EBSD的測試需求,,能夠?qū)饘佟⑻沾?、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析,。 低電壓
低真空
大視場
導(dǎo)航&防碰撞
光學(xué)導(dǎo)航
標配倉內(nèi)攝像頭,,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品,。手勢快捷導(dǎo)航
如框選放大:在低倍導(dǎo)航下,,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,,提高工作效率,。防碰撞技術(shù)
1. 手動輸入樣品高度,精準控制樣品與物鏡下端距離,,防止發(fā)生碰撞,;
2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術(shù),運動過程中對倉內(nèi)的畫面進行實時監(jiān)測,;
3. 硬件防碰撞,,可在碰撞一瞬間停止電機,減少碰撞損傷,。(*SEM3200A需選配此功能) 特色功能
智能輔助消像散
自動聚焦
自動消像散
自動亮度對比度
多種信息同時成像
成分信息。快速圖像旋轉(zhuǎn)
豐富拓展性
SEM3200接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測器(ETD),、背散射電子探測器(BSED),、X射線能譜儀(EDS)外,也預(yù)留了諸多接口,,如電子背散射衍射(EBSD),、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進行集成。背散射電子探測器
二次電子成像和背散射電子成像對比四分割背散射電子探測器——多通道成像
能譜
電子背散射衍射
該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,,判斷晶界和孿晶,,對材料組織結(jié)構(gòu)進行精確判斷。
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企業(yè)名稱
國儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司企業(yè)類型
信用代碼
9111010866564955XH法人代表
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注冊資本
有效期限
經(jīng)營范圍
400-810-0069轉(zhuǎn)3348
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