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貝士德儀器科技（北京）有限公司
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貝士德儀器科技（北京）有限公司
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截至目前,，貝士德儀器已獲12項(xiàng)國(guó)家專利。由于科技投入的驅(qū)動(dòng),，近年來(lái)貝士德儀器科技（北京）有限公司每年產(chǎn)值都以30%的速度不斷提升,。同時(shí)，產(chǎn)品的銷售空間也在不斷的拓展,。
貝士德儀器獲得12項(xiàng)國(guó)家專利如下：
1>專利名稱：具有吹風(fēng)加熱功能的比表面儀 專利號(hào):ZL200920110451.5
具有國(guó)內(nèi)唯一程控風(fēng)熱助脫裝置,，保證得到尖銳快速的脫附峰，減少背景誤差提高測(cè)試效率和精度
作用：降低背景噪聲,，提高靈敏度
2>專利名稱：具有原位吹掃功能的比表面儀 專利號(hào):ZL200920110453.4
具有國(guó)內(nèi)唯一一體式脫氣裝置（非分體式）,，實(shí)現(xiàn)了試樣原位處理，與空氣零接觸,，保證了樣品預(yù)處理的高效性,，有效提高測(cè)試精度；
作用：提高預(yù)處理效率
3>專利名稱:氮?dú)鉂舛葯z測(cè)器 專利號(hào):ZL200920110455.3
具有國(guó)內(nèi)唯一色譜法氮?dú)夥謮簷z測(cè)系統(tǒng),，相對(duì)流量法精度提高10倍,，使氮?dú)鉂舛瓤刂凭群蜋z測(cè)精度均達(dá)到萬(wàn)分之一，高穩(wěn)定性,；
作用：提高分壓檢測(cè)精度
4>專利名稱：氣體凈化冷阱及比表面儀 專利號(hào):ZL200920110450.0
具有國(guó)內(nèi)唯一氣體凈化冷阱,使氣體純度提高1個(gè)數(shù)量級(jí)以上,；
作用：降低氣體中雜質(zhì)影響
5>專利名稱：氣體恒溫裝置及比表面儀 專利號(hào):ZL200920110454.9
具有國(guó)內(nèi)唯一檢測(cè)器恒溫系統(tǒng)，使檢測(cè)器10min的漂移小于0.1mV,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與穩(wěn)定性,；
作用：抑制零點(diǎn)漂移
6>專利名稱：比表面儀U型樣品管 專利號(hào):ZL200920110452.X
貝士德樣品管,，保證測(cè)試精度的同時(shí)使得樣品管裝樣方便并不局限于粉末樣品測(cè)試；
作用：大進(jìn)小出,，方便裝樣
7>專利名稱：靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的凈化預(yù)處理裝置 專利號(hào)：ZL201120136943.9
具有國(guó)內(nèi)唯一的“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”兩種可選功能,；分子置換模式相對(duì)分子擴(kuò)散模式效率提高1倍以上，可節(jié)省一半以上的預(yù)處理時(shí)間,，解決以往靜態(tài)法樣品制備時(shí)間長(zhǎng)的問(wèn)題.
作用：提高樣品預(yù)處理效率
8>專利名稱：靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸汽壓測(cè)試裝置 專利號(hào)：ZL201120136959.X
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸氣壓測(cè)試裝置,。所述測(cè)試裝置包括一支浸在液氮中的管子；且該測(cè)試裝置直接設(shè)置安裝在靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀上,，與樣品管處在同一個(gè)液氮杯中,。通過(guò)該測(cè)試裝置能夠直接測(cè)得飽和蒸汽壓P0值,，減少了測(cè)試中間環(huán)節(jié)，提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,。
作用：保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性,
9>專利名稱：利用氣體置換法樣品池下裝式真密度儀 專利號(hào)： ZL201230104221.5
該真密度儀由于以樣品池內(nèi)腔為測(cè)試腔,，不需要將樣品池放入測(cè)試桶內(nèi)才能測(cè)試，避免了測(cè)試較小體積材料時(shí),，受傳統(tǒng)測(cè)試桶的內(nèi)腔較大容積的影響,，導(dǎo)致測(cè)試精度低的問(wèn)題。該真密度儀具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,、操作方便,，測(cè)試精度高的優(yōu)點(diǎn)。
10>專利名稱：利用氣體置換法氣控閥真密度儀 專利號(hào)：ZL201220140709.8
該真密度儀由于采用氣體推動(dòng)閥芯實(shí)現(xiàn)閥門(mén)開(kāi)關(guān)的氣控閥,，氣控閥的工作過(guò)程中不會(huì)有持續(xù)的熱量產(chǎn)生,，從根本上解決了目前采用電磁閥的真密度儀的發(fā)熱現(xiàn)象，徹底消除了電磁閥閥體發(fā)熱而引入測(cè)量的誤差,，提高了利用氣體置換法的真密度儀的測(cè)試精度,。
11>專利名稱：真密度分析儀外觀專利 專利號(hào)： ZL 201230104221.5
12>專利名稱：靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀外觀專利 專利號(hào)：ZL201030177578.7
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