成都精新粉體測試設(shè)備有限公司
已認(rèn)證
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為什么同一種粉體,用不同廠家的激光粒度儀測試結(jié)果會(huì)不同,?
主要原因有:
1:各廠家設(shè)計(jì)的光學(xué),電學(xué)(主要指探測器)參數(shù)不同,探測器組中各個(gè)探測點(diǎn)空間位置和數(shù)量不同,其探測到的顆粒信息不同,,所以不同位置探測的信息相差很大,可達(dá)若干個(gè)數(shù)量級(jí),。特別是對(duì)于非球形顆粒,,其信息在三維空間上的變化差異很大。
2:顆粒分析的算法不同,,這也是一個(gè)主要原因,。打個(gè)簡單比喻,,1+1=2,,但2=?+?,就有無窮多種解法,,在實(shí)際的測試中,,各個(gè)粒徑的信號(hào)是復(fù)合的(矢量合)。要根據(jù)有限點(diǎn)陣的探測器上的顆粒信號(hào),,準(zhǔn)確解析出實(shí)際的顆粒分布是一個(gè)難點(diǎn),。由于不同探測器的信號(hào)相差非常大,而且信息中還夾雜很多干擾成分,,要保證在有干擾的情況下分析數(shù)據(jù)達(dá)到偏差小,,標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)重復(fù)性誤差在允許范圍之內(nèi),儀器內(nèi)部安裝結(jié)構(gòu)也尤為重要,。
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