丹東百特儀器有限公司
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(1) 激光法:優(yōu)點:操作簡便,,測試速度快,,測試范圍大,,重復性和準確性好,可實現(xiàn)在線測量和干法測量,。缺點:分辨力較低,。
(2) 動態(tài)圖像法:優(yōu)點:操作簡便、拍攝與分析速度快、重復性和準確性好,,可測量最大顆粒,,可進行圓形度、長徑比等形貌分析,。缺點:不能分析細顆粒(如<2μm),,儀器成本較高。
(3) 靜態(tài)圖像法:優(yōu)點:成本較低,、圖像清晰,、可進行圓形度、長徑比等形貌分析,。 缺點:操作復雜,,分析速度慢,無法分析細顆粒(如<2μm),。
(4) 電鏡法:優(yōu)點:能精確分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌,,圖像清晰,表面紋理可見,,分辨率高,,是表征納米顆粒粒度的標準方法。缺點:代表性差,、儀器價格昂貴,。
(5) 光阻法:優(yōu)點:測試速度快,可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù),,分辨力高,,樣品用量少。缺點:進樣系統(tǒng)比較復雜,,不適用粒徑<1μm 的樣品,。
(6) 電阻法:優(yōu)點:操作簡便,可測顆粒數(shù),,等效概念明確,,速度快,準確性好,。缺點:不適合測量超細樣品和寬分布樣品,,維護時更換小孔管比較麻煩。
(7) 沉降法:優(yōu)點:操作簡便,,儀器可以連續(xù)運行,,價格較低,測試范圍較大,。缺點:測試時間較長,,操作復雜,。
(8) 篩分法:優(yōu)點:簡單、直觀,、設備造價低,,常用于大于38μm(400目)的樣品。缺點:不能用于超細樣品,;結(jié)果受人為因素和篩孔變形 影響較大。
(9) 動態(tài)光散射法:優(yōu)點:測試范圍寬(從納米到亞微米),、測試速度快,,重復性好,操作簡便,。缺點:測試寬分布的納米材料誤差及較大,。
(10) 超聲波法:優(yōu)點:可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,無需稀釋樣品,。 缺點:分辨率較低,,準確性和重復性較差,結(jié)果受環(huán)境因素影響較大,。
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