
馬爾文帕納科

已認(rèn)證
馬爾文帕納科
已認(rèn)證
本文摘要
使用Zetasizer納米粒度電位儀進(jìn)行預(yù)制備樣品電位測量時(shí),樣品中產(chǎn)生的氣泡會(huì)顯著影響測量結(jié)果,。本文將通過實(shí)際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科專利的擴(kuò)散屏障法[2]結(jié)合使用,,來保障預(yù)制備樣品電位結(jié)果的數(shù)據(jù)質(zhì)量和一致性。
01丨前言
提到氣泡,,可能會(huì)聯(lián)想到游戲和有趣,,但在科學(xué)測量領(lǐng)域,,它們往往帶來更多的是辛苦和麻煩。
使用納米粒度電位儀進(jìn)行電位測量,,通常情況下,,當(dāng)樣品制備好后立即進(jìn)行電位測量時(shí),氣泡很少會(huì)有影響,。然而,,當(dāng)我們分析大批量樣品,需要高通量的方法,,使用一些自動(dòng)進(jìn)樣的模塊,,如Zetasizer的智能進(jìn)樣助手[1],需要提前制備樣品時(shí),,溶解在溶液中的氣體自然脫氣形成氣泡,,帶來困擾。隨著時(shí)間的推移,,氣泡形成的風(fēng)險(xiǎn)增加,。測量zeta 電位時(shí),如果樣品中存在氣泡,,會(huì)顯著影響測量結(jié)果,。
氣泡以多種不同的方式影響電位測量結(jié)果,,具體取決于它們出現(xiàn)的位置,。
1.氣泡在毛細(xì)管樣品池中:這時(shí)會(huì)影響樣品在毛細(xì)管樣品池內(nèi)的流動(dòng)。樣品流動(dòng)性受影響,,會(huì)改變用于電位計(jì)算的電動(dòng)力學(xué)結(jié)果,,導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)。
2.樣品池的測量窗口存在氣泡:會(huì)影響樣品的散射光信號(hào),,這主要是用于計(jì)算電位的,。這將造成數(shù)據(jù)質(zhì)量下降和電位結(jié)果不準(zhǔn)確。
3.氣泡與樣品池電極接觸:可能會(huì)造成電導(dǎo)率的變化,,從而增加測量誤差,。
在本文的應(yīng)用案例中,我們將展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科公司專利的擴(kuò)散屏障法[2]結(jié)合使用,,來保障預(yù)制備樣品的電位結(jié)果的數(shù)據(jù)質(zhì)量和一致性,。通過這個(gè)簡單、有效且高效的過程,,在樣品前處理過程中去除氣泡,,在您使用自動(dòng)進(jìn)樣助手時(shí),可將與氣泡相關(guān)的風(fēng)險(xiǎn)降到最低,。
02丨實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
本實(shí)驗(yàn)旨在模擬使用智能進(jìn)樣助手時(shí)的樣品條件,。樣品是Zeta電位標(biāo)準(zhǔn)品(貨號(hào):ZTS1240)-由硼酸鹽緩沖液中的乳膠構(gòu)成,。具體的樣品情況如下表1所示。采用擴(kuò)散屏障法[2]上樣,,單獨(dú)對(duì)緩沖液進(jìn)行超聲處理,,防止破壞或干擾樣品。
表1:觀察不同類型樣品中的氣泡形成
氣泡測量方法
毛細(xì)管樣品池先用乙醇,,再用水沖洗,,這是標(biāo)準(zhǔn)的清潔程序。然后將表1中的樣品分別加入樣品池中,。超聲處理的樣品,,將硼酸鹽緩沖液置于超聲水浴中10分鐘,脫氣處理,。
樣品在室溫下靜置24小時(shí),,在0-10小時(shí)之間,每小時(shí)記錄每個(gè)樣品中的氣泡數(shù)量,,并在第24小時(shí)進(jìn)行最后一次測量,。
電位測量方法
用于電位測量的樣品包括:
裝滿樣品池的ZT1240標(biāo)品
擴(kuò)散屏障法上樣的超聲脫氣的緩沖液加ZTS1240標(biāo)品
清洗毛細(xì)管樣品池,上樣后,,在0時(shí)記錄電位值,。靜置24小時(shí),再記錄電位值和氣泡數(shù)量,。
03丨結(jié)果與討論
圖1顯示了樣品中存在氣泡時(shí),,電位結(jié)果的準(zhǔn)確性降低。放置24小時(shí)后的樣品(平均有21.5個(gè)氣泡)的電位結(jié)果分布比0時(shí)(平均0個(gè)氣泡)時(shí)大得多,。
測量結(jié)果跨度大,,接近ZTS1240標(biāo)品的可接受測量范圍邊緣,說明了控制氣泡形成的必要性,。
圖1:ZTS1240標(biāo)品在第0時(shí)和靜置24小時(shí)后的電位測量結(jié)果,。
在圖2中,我們展示了由于擴(kuò)散屏障的作用,,24小時(shí)內(nèi)樣品中產(chǎn)生的氣泡數(shù)量顯著減少,。對(duì)緩沖液進(jìn)行超聲脫氣進(jìn)一步減少了氣泡,驗(yàn)證了這是一種有效減少氣泡形成的方法,。
圖2:不同樣品在電位樣品池內(nèi),,靜置24小時(shí)的過程中產(chǎn)生的氣泡數(shù)量
圖3展示了緩沖液經(jīng)脫氣處理、采用擴(kuò)散屏障法的ZTS1240標(biāo)品的電位結(jié)果,。結(jié)果顯示,,由于有效抑制了氣泡在樣品中的形成,靜置24小時(shí)后樣品的電位值準(zhǔn)確性沒有降低,。數(shù)據(jù)結(jié)果分布穩(wěn)定,,所有測量值都在電位標(biāo)準(zhǔn)品的預(yù)期值范圍內(nèi),。
圖3:緩沖液經(jīng)超聲脫氣、采用擴(kuò)散屏障法的ZTS1240在第0時(shí)和第24小時(shí)的電位測量結(jié)果,,與未經(jīng)上述處理的ZTS1240靜置24小時(shí)后的電位值對(duì)比,。
Zetasizer 納米粒度電位儀
結(jié)論
本次實(shí)驗(yàn)中我們展示了氣泡對(duì)電位測量結(jié)果的影響,以及如何通過對(duì)緩沖液的超聲脫氣和擴(kuò)散屏障法有效抑制氣泡的形成,。
如果您實(shí)驗(yàn)中需要處理大批量的樣品,,使用了自動(dòng)進(jìn)樣助手,需要預(yù)制備樣品,,應(yīng)采用上述方法,,以避免電位結(jié)果的準(zhǔn)確性受氣泡影響。
本次實(shí)驗(yàn)中,,我們使用了超聲處理來減少緩沖液中的溶解氣體,,但同樣可以采用其他脫氣技術(shù),如真空脫氣或用惰性氣體沖洗,。
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