中國粉體網(wǎng)訊 太赫茲光譜儀可以穿透石墨烯薄膜,，使科學(xué)家能夠在不破壞或污染材料的情況下,，對(duì)其電氣質(zhì)量進(jìn)行詳細(xì)的描繪。石墨烯旗艦將學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員聚集在一起,，開發(fā)并成熟了這一分析技術(shù),，現(xiàn)在一種用于石墨烯表征的新型測(cè)量工具已經(jīng)準(zhǔn)備就緒。
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這一努力得益于石墨烯旗艦項(xiàng)目歐洲聯(lián)盟營造的合作環(huán)境,，來自石墨烯旗艦項(xiàng)目合作伙伴丹麥DTU,、意大利IIT、芬蘭阿爾托大學(xué),、英國AIXTRON,、比利時(shí)imec、西班牙Graphenea,、波蘭華沙大學(xué)和法國Thales R&T的科學(xué)家,，以及中國、韓國和美國的合作者都參與其中,。
石墨烯經(jīng)常被 "夾 "在許多不同的層和材料之間,，以用于電子和光子器件。這使得質(zhì)量評(píng)估的過程變得復(fù)雜,。而太赫茲光譜學(xué)使事情變得簡(jiǎn)單,。它可以對(duì)封裝材料進(jìn)行成像，并揭示下面石墨烯的質(zhì)量,，暴露制造過程中關(guān)鍵點(diǎn)的缺陷,。這是一種快速、非破壞性的技術(shù),，可以探測(cè)石墨烯和層狀材料的電特性,，而無需直接接觸。
像太赫茲光譜這樣的表征技術(shù)的發(fā)展是加速大規(guī)模生產(chǎn)的基礎(chǔ),，因?yàn)樗鼈儽ＷC了石墨烯功能器件的制造是一致的,、可預(yù)測(cè)的,、沒有缺陷的。質(zhì)量控制先于信任,。得益于Graphene Flagship開創(chuàng)的其它技術(shù)進(jìn)展,，如石墨烯和分層材料的卷對(duì)卷生產(chǎn)讓制造技術(shù)已經(jīng)準(zhǔn)備好邁向下一步。太赫茲光譜技術(shù)使我們能夠在不忽視質(zhì)量的前提下加快石墨烯的生產(chǎn)速度,。得益于太赫茲光譜技術(shù),，制造者可以在不接觸石墨烯樣品的情況下，輕松繪制出甚至是米級(jí)的石墨烯樣品,，這在其他一些最先進(jìn)的技術(shù)中是不可能的,。此外，石墨烯旗艦?zāi)壳罢谘芯咳绾螌⑻掌澒庾V直接應(yīng)用到卷對(duì)卷石墨烯生產(chǎn)線中,，并加快成像速度,。
（中國粉體網(wǎng)編輯整理/青黎）
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