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【干貨】如何利用透射電鏡測(cè)量石墨烯樣品層數(shù)和厚度?


來源:中科院化學(xué)所分析測(cè)試中心

[導(dǎo)讀]  石墨烯具有獨(dú)特的二維結(jié)構(gòu)以及良好的電學(xué),、光學(xué),、力學(xué)等性能,石墨烯在復(fù)合材料,、傳感器,、電子器件,、能量存儲(chǔ)等領(lǐng)域有很大的發(fā)展空間,,因此受到科研工作者的廣泛關(guān)注。

中國(guó)粉體網(wǎng)訊  石墨烯是由單層碳原子以 sp2 鍵連接緊密堆積形成蜂窩狀二維晶體結(jié)構(gòu)的新型碳質(zhì)材料,由于其具有獨(dú)特的二維結(jié)構(gòu)以及良好的電學(xué),、光學(xué),、力學(xué)等性能,石墨烯在復(fù)合材料,、傳感器、電子器件,、能量存儲(chǔ)等領(lǐng)域有很大的發(fā)展空間,,因此受到科研工作者的廣泛關(guān)注。


石墨烯的制備方法主要包括微機(jī)械剝離法,,化學(xué)氣相沉積法、氧化還原法,、外延生長(zhǎng)法以及電化學(xué)還原法等,。然而,,由于制備方法不夠成熟,,且不同方法制備的石墨烯都會(huì)有所差異,,無法滿足各個(gè)領(lǐng)域?qū)τ诖蟪叽�,、高質(zhì)量的石墨烯的需求,。因此,對(duì)于石墨烯結(jié)構(gòu)和層數(shù)的表征是獲得高質(zhì)量石墨烯關(guān)鍵表征手段,。目前針對(duì)石墨烯的表征技術(shù)主要有:掃描電鏡(SEM),、透射電鏡(TEM)、原子力顯微鏡(AFM),、 X-射線衍射(XRD),、拉曼光譜(RAMAN)、紫外光譜(UV),、 X 射線光電子能譜(XPS)等,。這些表征手段能夠?qū)κ┑男蚊病⑵瑢訑?shù)量,、缺陷等進(jìn)行表征,,從而對(duì)石墨烯的實(shí)驗(yàn)制備提供一定的理論依據(jù)。我們主要介紹透射電鏡表征技術(shù),,利用石墨烯邊緣的高分辨像或者電子衍射來判斷石墨烯的層數(shù),。


利用透射電鏡,可以應(yīng)用石墨烯片層邊緣或褶皺處的高分辨電子顯微像(HRTEM)估算石墨烯片的層數(shù)和尺寸,,這種表征技術(shù)比較簡(jiǎn)單快速,,但是只能用來估算,,無法精確判斷出石墨烯的層數(shù),。應(yīng)用選區(qū)電子束結(jié)合電子衍射(SAED),則可對(duì)石墨烯的層數(shù)做出準(zhǔn)確的判斷,。通過透射電鏡中的電子衍射來判斷石墨烯的層數(shù),, 此種方法是改變?nèi)肷涫┑碾娮邮较颍ㄟ^在不同電子束入射角的情況下石墨烯衍射斑點(diǎn)強(qiáng)度的變化規(guī)律來判斷樣品的層數(shù),。當(dāng)改變電子束入射方向時(shí),,單層石墨烯的各個(gè)衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度基本保持不變,而對(duì)于雙層以及多層的石墨烯,,由于層間干涉效應(yīng)的存在,,電子束入射角的改變會(huì)帶來測(cè)試技術(shù)及技巧衍射斑點(diǎn)強(qiáng)度的明顯變化,可以用倒易空間模型解釋。當(dāng)入射電子束方向發(fā)生變化時(shí),,其電子衍射斑點(diǎn)強(qiáng)度不發(fā)生明顯變化,,這是單層石墨烯所特有的性質(zhì)。因此,, 通過改變電子束入射角的方法,,可以非常明確地將單層與多層石墨烯區(qū)分開。


上述判斷方式中,,對(duì)于多層石墨烯的堆垛方式?jīng)]有區(qū)分,,也就是說不管多層石墨烯是 AA、 AB 或者 ABC 堆垛的,,均可采用改變電子束入射角的方法來與單層石墨烯區(qū)分開,。而電子衍射的方法可以更簡(jiǎn)單。對(duì)于單層石墨烯和 AB 堆垛的雙層石墨烯,,可以不用改變電子束入射的方向,,只要通過觀察電子束垂直入射情況下電子衍射的斑點(diǎn)強(qiáng)度的比值,就可以將單層石墨烯與雙層石墨烯(AB 堆垛)區(qū)分開,。需要指出的是,,這一方法僅對(duì)區(qū)別 AB 堆垛的石墨烯與單層石墨烯有效,而對(duì) AA 堆垛的石墨烯來說,,在電子束垂直入射時(shí),,其電子衍射與單層石墨烯無明顯差異,,無法進(jìn)行區(qū)分,。


一、石墨烯材料層數(shù)測(cè)量—選區(qū)電子衍射


1)單層石墨烯的判斷


采用透射電鏡選區(qū)電子衍射斑點(diǎn)來判斷石墨烯的層數(shù),。單層石墨烯的各個(gè)衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度基本相同,,當(dāng)改變電子束入射方向后,,各個(gè)衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度基本保持不變,。因此,可通過在不同電子束入射角時(shí)石墨烯衍射斑點(diǎn)強(qiáng)度的變化規(guī)律來判斷石墨烯樣品是否是單層,。圖 1(a)和(c)分別是石墨烯樣品的透射電鏡高分辨晶格像和選區(qū)電子衍射斑點(diǎn),,圖 1(e)下方對(duì)應(yīng)的是圖 1(c)中兩個(gè)衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度線,,各個(gè)衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度基本相同,由此可判斷石墨烯樣品為單層,。


2)雙層石墨烯的判斷


對(duì)于雙層石墨烯,,由于層間干涉效應(yīng)的存在,改變電子束入射角可能會(huì)導(dǎo)致某些衍射斑點(diǎn)強(qiáng)度明顯變化,。對(duì)于 AA 堆垛的雙層石墨烯,,當(dāng)電子束垂直入射時(shí),,各個(gè)衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度基本相同,,當(dāng)電子束入射角為 20°時(shí),, [0-110 ]衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度將減弱至少 10 倍。對(duì)于 AB 堆垛的雙層石墨烯,,當(dāng)電子束垂直于樣品表面入射時(shí),,次內(nèi)層衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度約為最內(nèi)層的 2 倍。圖 1(b)是 AB 堆垛的雙層石墨烯的高分辨晶格像,,圖 1(d)是相應(yīng)的選區(qū)電子衍射斑點(diǎn),,圖 1(e)上方對(duì)應(yīng)的是圖 1(d)中兩個(gè)衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度線,次內(nèi)層衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度約為最內(nèi)層衍射斑點(diǎn)的 2 倍,,由此可判斷石墨烯樣品為雙層,。



圖 1,、 石墨烯的高分辨像和選區(qū)衍射:(a)單層石墨烯的高分辨像;(b)雙層石墨烯的高分辨像,;(c)單層石墨烯的選區(qū)電子衍射,;(d)雙層石墨烯的選區(qū)電子衍射;(e)選區(qū)電子衍射斑點(diǎn)的強(qiáng)度,。


3)少層石墨烯的判斷


對(duì)于 AA 堆垛的少層石墨烯,,由于層間干涉效應(yīng)的存在,改變電子束入射角會(huì)導(dǎo)致不同層的衍射斑點(diǎn)旋轉(zhuǎn)分離,,多套衍射斑點(diǎn)以一定的角度旋轉(zhuǎn)疊加在一起,,計(jì)數(shù)衍射斑點(diǎn)套數(shù),可確定石墨烯的層數(shù),。對(duì)于其它堆垛的少層石墨烯,,不同層的取向會(huì)略有不同,即碳原子六元環(huán)的方向不同,,形成旋轉(zhuǎn)錯(cuò)位,,多套衍射斑點(diǎn)以一定的角度旋轉(zhuǎn)疊加在一起,計(jì)數(shù)衍射斑點(diǎn)套數(shù),,可確定石墨烯的層數(shù) Ls,。圖2(a)是石墨烯樣品的明場(chǎng)像,圖 2(b)是圖 2(a)中白圈區(qū)域的選區(qū)電子衍射斑點(diǎn),,計(jì)數(shù)外層衍射斑點(diǎn)數(shù)量共計(jì) 30 個(gè),,而每層石墨烯有 6 個(gè)衍射斑點(diǎn),因此,,白圈區(qū)域的石墨烯為 5 層,。


圖 2、 石墨烯材料的明場(chǎng)像和選區(qū)電子衍射:(a)明場(chǎng)像,;(b)圖(a)中白圈區(qū)域的選區(qū)電子衍射,。


二、石墨烯的層數(shù)測(cè)量—高分辨晶格像


采用透射電鏡高分辨晶格像來測(cè)量石墨烯的層數(shù),。石墨烯邊緣的折疊或卷曲,,可以很容易獲得高分辨晶格像,每一層石墨烯,,在高分辨晶格像中對(duì)應(yīng)一條暗線,,通過計(jì)數(shù)邊緣區(qū)域的暗線數(shù)目,可確定石墨烯的層數(shù),。圖 3 是不同層數(shù)的石墨烯的高分辨晶格像,。


圖 3、 石墨烯的透射電鏡晶格像:(a) 1 層;(b) 2 層,;(c) 3 層,;(d) 5 層,;(e) 6 層


三,、石墨烯的厚度測(cè)量—高分辨晶格像


拍攝石墨烯邊緣的高分辨晶格像,獲取石墨烯層暗線垂直方向的強(qiáng)度線譜圖,,測(cè)量包含 n 個(gè)強(qiáng)度峰的寬度 W,,計(jì)算單個(gè)強(qiáng)度峰的平均寬度,即得到石墨烯的單層厚度 dg = W/n,。圖 4(a)是石墨烯樣品的高分辨晶格像,,圖 4(b)是圖 4(a)中藍(lán)線方框區(qū)域石墨烯層暗線垂直方向的強(qiáng)度線譜圖,測(cè)得 4 個(gè)強(qiáng)度峰的總寬度 W 為 1.35 nm,,計(jì)算出單個(gè)強(qiáng)度峰的平均寬度為 0.375 nm,,即石墨烯的單層厚度 dg 為 0.3375 nm。


圖 4,、 石墨烯的高分辨像和單層厚度:(a)高分辨晶格像,;(b)單層厚度測(cè)量


隨著石墨烯研究進(jìn)展,對(duì)于石墨烯的表征手段也不斷豐富,。無論是透射電鏡還是其他各種表征方法,,雖然都可以對(duì)石墨烯進(jìn)行表征,但每種技術(shù)都有一定的局限性,,在實(shí)際科學(xué)研究中要根據(jù)實(shí)際需要選擇合適的表征手段或者多種表征手段相結(jié)合,,才能得到關(guān)于石墨烯的相對(duì)準(zhǔn)確的信息。


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