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TESCAN邀您參加2018低維碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會


來源:中國粉體網(wǎng)

[導(dǎo)讀]  TESCAN邀您參加2018低維碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會

碳元素是自然界中存在的與人類最密切相關(guān)、最重要的元素之一,除了眾所周知的金剛石,、石墨之外,,在納米材料領(lǐng)域,富勒烯,、碳納米管石墨烯等低維碳納米材料,,以及硅碳等復(fù)合材料,因其突出的力學(xué),、電學(xué)和化學(xué)性能在新材料領(lǐng)域的巨大的應(yīng)用前景,,引發(fā)了國內(nèi)外持久的研究熱潮,,21世紀(jì)甚至被稱為“碳世紀(jì)”,。


但是,與科研領(lǐng)域的繁榮不同的是,,低維碳納米材料在產(chǎn)業(yè)化的道路上一直沒有取得突破性的進(jìn)展。如何實(shí)現(xiàn)此類材料的低成本制備,,哪一個領(lǐng)域?qū)⑹瞧鋵?shí)現(xiàn)大規(guī)模產(chǎn)業(yè)化的突破口,,一直是科研人員及產(chǎn)業(yè)界人士探索的關(guān)鍵所在,。


在此背景下,中國粉體網(wǎng)聯(lián)合江蘇省納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心,、中國科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所,,將于2018年4月24-25日在蘇州金陵觀園國際酒店舉辦 “2018低維碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會”,會議旨在共同探討低維碳材料現(xiàn)階段的發(fā)展中所面臨的機(jī)遇和挑戰(zhàn),分享最新的研究成果,,共同推動其產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程,。作為微觀分析領(lǐng)域前沿技術(shù)的創(chuàng)新者和實(shí)踐者,TESCAN將出席此次技術(shù)交流會,,分享TESCAN在低維碳納米材料微觀分析領(lǐng)域取得的技術(shù)突破,!



2018低維碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會


公司介紹


TESCAN是一家專注于提供微觀形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析的科學(xué)儀器的跨國企業(yè),,是全球知名的電子顯微儀器制造商,,總部位于全球最大的電鏡制造基地-捷克布爾諾,,目前已建立起全球的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),,在捷克,、法國和美國擁有4家研發(fā)中心,、2個生產(chǎn)基地以及6家海外子公司,,已有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史,。其產(chǎn)品主要有電子顯微鏡、聚焦離子束系統(tǒng),、多通道全息顯微鏡及相關(guān)分析附件和軟件,,正被廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。


作為科學(xué)儀器的全球供應(yīng)商之一,,TESCAN正為其在設(shè)計(jì),、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領(lǐng)域的應(yīng)用方面樹立良好的聲譽(yù)和品牌。目前TESCAN的產(chǎn)品和解決方案已經(jīng)在全球微納米技術(shù)領(lǐng)域取得了領(lǐng)先的地位,,首創(chuàng)了掃描電鏡與拉曼共聚焦顯微鏡一體化技術(shù)(SEM-Raman),、雙束電鏡與飛行時間-二次離子質(zhì)譜儀一體化技術(shù)(FIB-SEM-TOF-SIMS)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù)(Xe Plasma FIB-SEM),是行業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者,。TESCAN憑借優(yōu)異的性能贏得全世界越來越多的用戶認(rèn)可,,目前生產(chǎn)的各系列電鏡在世界范圍內(nèi)受到廣泛的好評,,TESCAN的產(chǎn)品與技術(shù)正積極服務(wù)于全球客戶。


產(chǎn)品介紹


TESCAN的全系列電鏡產(chǎn)品,,不僅僅是一個單一應(yīng)用的微觀分析工具,,而是一個性能強(qiáng)大的綜合性微觀分析平臺,擁有“All In One”的強(qiáng)大拓展分析功能,,可以提供給用戶一個全面的綜合解決方案,,能夠在掃描電鏡平臺結(jié)合EDS、EBSD等分析技術(shù),、FIB技術(shù)以及TESCAN獨(dú)家Raman,、TOF-SIMS集成一體化技術(shù),極大地拓展分析應(yīng)用,。接下來,,主要簡單介紹一下TESCAN公司獨(dú)創(chuàng)的兩款產(chǎn)品:TESCAN RISE掃描電鏡-拉曼光譜(SEM-Raman)一體化系統(tǒng)和雙束電鏡-飛行時間二次離子質(zhì)譜(FIB-SEM-TOF-SIMS)一體化系統(tǒng)。



RISE掃描電鏡-拉曼光譜(SEM-Raman)一體化系統(tǒng)


RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)是一款新穎的顯微鏡技術(shù),,在一個集成的顯微鏡系統(tǒng)中結(jié)合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術(shù),,這種獨(dú)特的組合為顯微鏡用戶對樣品進(jìn)行綜合表征,提供了明顯的優(yōu)勢,。


掃描電子顯微鏡是一個很好的表征納米范圍內(nèi)樣品表面結(jié)構(gòu)的可視化技術(shù),,而共焦拉曼成像是表征樣品化學(xué)和分子組成的成熟光譜方法。RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)還可以同時得到樣品的2D,、3D圖像,,以及樣品中分子化合物組成的可視化分布結(jié)果。


TESCAN RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)


RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)通過實(shí)現(xiàn)原位,、快速,、方便和高性能的拉曼分析,可以極大的拓展分析應(yīng)用,,在有機(jī)結(jié)構(gòu)解析,、碳結(jié)構(gòu)解析、無機(jī)相鑒定,、同分異構(gòu)分析,、結(jié)晶度分析等領(lǐng)域作出重大突破。目前,,RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)在地質(zhì),、礦物晶體,、高分子聚合物,、醫(yī)學(xué),、生命醫(yī)藥,、寶玉石鑒定等領(lǐng)域均有了非常豐富的應(yīng)用。


關(guān)于RISE顯微鏡在碳材料分析方面的應(yīng)用案例,,請點(diǎn)擊:

https://mp.weixin.qq.com/s/jXO8js9LDVDcAKheTjqZTQ


雙束掃描電鏡-二次離子質(zhì)譜(FIB-SEM-TOF-SIMS)一體化系統(tǒng)


TESCAN是第一個將TOF-SIMS和自己的SEM/FIB成功集成在一起,,創(chuàng)新成為一體化系統(tǒng)的廠家,。聯(lián)用系統(tǒng)的創(chuàng)新打破了EDS及WDS的分析局限性,擁有更靈敏的檢出限和更好的空間分辨率,,在對輕元素的探測,、同位素檢測、深度剖析和化學(xué)結(jié)構(gòu)解析應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢,。


TESCAN是第一個將TOF-SIMS和自己的FIB-SEM成功集成在一起,,擁有這項(xiàng)技術(shù)的公司,這項(xiàng)技術(shù)是用聚焦離子束(FIB)將試樣剝離,,產(chǎn)生帶電離子或者中性粒子,,采集帶電離子作為TOF-SIMS的分析信號,實(shí)現(xiàn)對于輕元素,、同位素,、三維數(shù)據(jù)重構(gòu)或者對薄膜深度方向的剖析和化學(xué)高分子試樣的官能團(tuán)等化學(xué)結(jié)構(gòu)的解析,。FIB-SEM-TOF-SIMS一體化系統(tǒng)的創(chuàng)新打破了EDS及WDS的分析局限性,,擁有更靈敏的檢出限和更好的空間分辨率,更加有利于實(shí)現(xiàn)三維快速成像,,獲得樣品的綜合全面信息,。

集成在FIB-SEM上的TOF-SIMS


FIB—SEM—TOF-SIMS技術(shù)獨(dú)特的優(yōu)勢



而正是因?yàn)門ESCAN “All In One” 的創(chuàng)新產(chǎn)品設(shè)計(jì)理念,使得TESCAN的任何系統(tǒng)在接入EDS,、WDS,、RAMAN、TOF-SIMS等更多分析附件和設(shè)備時表現(xiàn)出更好的兼容性和更優(yōu)異的性能,,對于樣品的進(jìn)一步組合分析提供了很大的便利,。


如果您對掃描電鏡感興趣或者有相關(guān)問題需要咨詢

敬請關(guān)注“2018低緯碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會”與TESCAN工作人員現(xiàn)場交流



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