中國粉體網訊  常用的粒度測試方法有篩分法、顯微鏡（動態(tài)/靜態(tài)圖象）法,、沉降法,、光阻法、電阻法,、激光法,、電子顯微鏡法、透氣法,、動態(tài)光散射法,、X射線小角散射法等。

    1) 篩分法：優(yōu)點：簡單,、直觀,、設備造價低、常用于大于40 μm的樣品,。缺點：結果受人為因素和篩孔變形影響較大,。

    2) 顯微鏡（圖像）法：優(yōu)點：簡單、直觀,、可進行形貌分析,，適合分布窄（最大和最小粒徑的比值小于10：1）的樣品。缺點：代表性差,，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,，無法分析小于1 μm的樣品。

    3) 沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便,，儀器可以連續(xù)運行,，價格低，準確性和重復性較好,，測試范圍較大,。缺點：測試時間較長，操作比較繁瑣,。

    4) 電阻法：優(yōu)點：操作簡便,，可測顆粒數，等效概念明確,，速度快,，準確性好,。缺點：不適合測量小于0.1 μm的顆粒樣品,，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

    5) 激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快,，測試范圍大,，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量,。缺點：結果受分布模型影響較大,，儀器造價較高，分辨力低,。

    6) 電子顯微鏡法：優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒,，分辨力高，可進行形貌和結構分析,。缺點：樣品少,，代表性差，測量易受人為因素影響,，儀器價格昂貴,。

    7) 光阻法：優(yōu)點：測試便捷快速，可測液體或氣體中顆粒數,，分辨力高,。缺點：不適用粒徑<1μm的樣品，進樣系統(tǒng)比較講究,，僅適合塵埃,、污染物或已稀釋好的藥物進行測量，對一般粉體用的不多,。

    8) 透氣法：優(yōu)點：儀器價格低,，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體,。缺點：只能得到平均粒度值,，不能測粒度分布；不能測小于5μm細粉,。

    9) X射線小角散射法：用于納米級顆粒的粒度測量,。

    10) 光子相關譜法(動態(tài)光散射法)：用于納米級顆粒的粒度測量。