(1)篩分法。優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀,、設(shè)備造價(jià)低,，常用于大于40um的樣品,。缺點(diǎn)：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
　　
　　(2)顯微鏡(圖像)法。優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀,，可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10：1)的樣品,。缺點(diǎn)：代表性差,，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品,。
　　
　　(3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降),。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變，儀器可以連續(xù)運(yùn)行,，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,，測(cè)試范圍較廣,。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作比較繁瑣。
　　
　　(4)電阻法,。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變可測(cè)顆粒數(shù),，等效概念明確，速度快,，準(zhǔn)確性好,。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量小于0.1um的顆粒樣品，對(duì)粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩,。
　　
　　(5)激光法,。優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快,，測(cè)試范圍廣,，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量,。缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大,，儀器造價(jià)較高，分辨力低,。
　　
　　(6)電子顯微鏡法,。優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超新顆粒甚至納米顆粒，分辨力高,，可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析,，缺點(diǎn)：樣品少，代表性差,，測(cè)量易受人為因素影響,，儀器價(jià)格昂貴。
　　
　　(7)光阻法,。優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試便捷快速,，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高,。缺點(diǎn)：不適用粒徑小于1umde樣品,，進(jìn)行系統(tǒng)比較講究，僅適合對(duì)塵埃,、污染物或已稀釋好的藥物進(jìn)行測(cè)量,，對(duì)一般粉體用的不多。
　　
　　(8)透氣法,。優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低,。不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)測(cè)性材料粉體,。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值,，不能測(cè)粒度分布,；不能測(cè)小于5um細(xì)粉。
　　
　　(9)X射線小角散射法,。用于納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量,。
　　
　　(10)光子相關(guān)譜法(動(dòng)態(tài)光散射法)。用于納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量,。