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GFM 便攜式三維光學(xué)缺陷階差測量儀
GFM 便攜式三維光學(xué)缺陷階差測量儀

參考價(jià)格

面議

型號

三維光學(xué)缺陷階差測量儀

品牌

GFM

產(chǎn)地

德國

樣本

暫無
上海人和科學(xué)儀器有限公司

金牌會(huì)員

|

第6年

|

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精確,、快速,、便攜


應(yīng)用領(lǐng)域:

金屬,復(fù)合材料,,織物等材質(zhì)表面的劃痕,,裂紋,磨損,,刮擦,、凹坑、鑿擊,、腐蝕等表面缺陷的現(xiàn)場檢測和分析,;

鉚接,焊接,,接縫等階差和凹凸量的三維檢測,;三維面粗糙度測量分析;

劃窩孔,,槽深,,圓弧,倒角等幾何尺寸測量,; 


測量原理:

德國GFM公司基于激光條紋相位投影技術(shù)和DSP高速圖像處理芯片研制的便攜式三維光學(xué)表面劃痕測量儀,,用于現(xiàn)場表面質(zhì)量特性的檢測,具有測量速度快,,測量準(zhǔn)確,,便攜性等優(yōu)點(diǎn)。       




儀器特點(diǎn):

便攜式現(xiàn)場檢測大型零件表面劃痕缺陷,階差等表面幾何特性參數(shù),;

三維測量表面劃痕缺陷,,通過拓?fù)渖顖D直觀檢測出劃痕缺陷較深的部位;

專業(yè)的劃痕測量分析軟件,,多種濾波方式:包含了多項(xiàng)式濾波,,高斯濾波,均值濾波等,,有效消除曲面輪廓,,傾斜,噪音信號,,毛刺,,灰塵等因素對測量結(jié)果的影響;

大傾角光路設(shè)計(jì),,以及藍(lán)光LED光源,,測量不受高反光曲面的影響,;

SDK軟件包,開放儀器接口,,可二次開發(fā),;



儀器附件 



技術(shù)參數(shù)


測量范圍X/Y/Z

 13X8X5 mm

測量示值誤差:

 (2+L/1000)μm; L單位μm

深度方向分辨力:

 1um

聚焦距離:

 107mm

測量掃描時(shí)間:

 3秒;掃描點(diǎn)云:36萬點(diǎn)/

使用環(huán)境溫度:

 5-40°C

符合國標(biāo)校準(zhǔn)規(guī)范的計(jì)量校準(zhǔn)溯源


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售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
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