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Zeta電位及納米粒度分析儀

技術參數(shù)：

粒度分析范圍: 0.3nm-10μm

重現(xiàn)性：誤差≤1%

濃度范圍：ppb-40%

檢測角度：180°

分析時間：30-120秒

準確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子

測量精度: 無需預選,，依據實際測量結果,，自動生成單峰/多峰分布結果

理論設計溫度：0-90℃，可以進行程序升溫或降溫

兼容性：兼容任何有機溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液 

測量原理：

粒度測量：動態(tài)光背散射技術和全量程米氏理論處理分子量測量：水力直徑或德拜曲線技術：膜電極,，微電場電勢測量,，“Y"型光纖探針設計，異相多普勒頻移,，可控參比方法,，快速傅立葉轉換算法，非球形顆粒校正因子

光學系統(tǒng)：

3mW780nm半導體固定位置激光器,，通過梯度步進光纖直接照射樣品,，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路 

軟件系統(tǒng)：

先進的Microtrac FLEX軟件提供強大的數(shù)據處理能力,，包括圖形,，數(shù)據輸出/輸入，個性化輸出報告,，及各種文字處理功能,，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據，Microsoft Access格式（OLE）等,。體積，數(shù)量,，面積及光強分布,，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據。數(shù)據的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,，包括口令保護,，電子簽名和授權等。

外部環(huán)境：

電源要求：90-240VAC,，5A,，50/60Hz環(huán)境要求：溫度，10-40°C相對濕度：小于95%

 配置：

有內置和外置光纖測量探頭可選

Zeta電位及納米粒度分析儀

主要特點：﹡采用的動態(tài)光散射技術,，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法﹡的“Y"型光纖光路系統(tǒng),，通過藍寶石測量窗口,，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下,，與膜電極對應產生微電場，測量同一體系的Zeta電位， 避免樣品交叉污染與濃度變化,。﹡的異相多譜勒頻移技術,，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,，提高分析結果的可靠性,。﹡的可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,，確保分析的靈敏度,。﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性,。﹡的快速傅利葉變換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,，縮短分析時間,。﹡膜電極設計，避免產生熱效應,，能準確測量顆粒電泳速度,。﹡無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池,，僅需點擊Zeta電位操作鍵,，一分鐘內即可得到分析結果﹡消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,，樣品池位置不同帶來的誤差,，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響,，多重散射的衰減等,，提高靈敏度。