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Aep Technology臺階儀
厚度47nm 標準樣品，三次重復測量結果疊加 (無任何減噪修正,，原始數(shù)據(jù)輸出） 500um掃描,， 2um探針
NanoMap-PS2是一款專門為nm級薄膜測量研發(fā)的無需防震臺即可測量的接觸式臺階儀
AFM同款位移傳感器，超高精度
壓電陶瓷驅動掃描,，**無內源振動
自集成主動反饋式防震系統(tǒng)
真正無需額外輔助防震系統(tǒng),，實現(xiàn)高重復性納米測量
納米量級科學研究的必備產品
NanoMap-PS2 臺階儀可以應用在半導體，光伏/太陽能,，光電子,，化合物半導體，OLED,，生物醫(yī)藥,，PCB封裝等領域的薄膜厚度，臺階高度,，粗糙度（Ra,，Rq，Rmax...）,，劃痕深度,，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量方面,。其高精度,，高重復性，自動探索樣品表面,，自動測量深受廣大客戶歡迎,。
測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料,、生物材料,、聚合物材料等等，對于植物表面,，生物材料,，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞,。設備傳感器精度高,，穩(wěn)定性好,。熱噪聲是同類產品*低的。垂直分辨率可達0.1nm ,。 可測表面,，包括透明、金屬材料,，半透明,、高漫反射，低反射率,、拋光,、粗糙材料，金屬,、玻璃,、木頭、合成材料,、光學材料,、塑料、涂層,、涂料,、漆、紙,、皮膚、頭發(fā),、牙齒等,； AEP的技術日新月異。 欲了解**的產品性能參數(shù),，請與我們聯(lián)系,。主要參數(shù) :
垂直分辨率 0.1nm
垂直**量程 1000um探針接觸力 0.03mg-100mg
平臺范圍 直徑150毫米（可選200毫米或更大）高清圖像 4級放大，彩色CCD成像光源 雙長壽命強光LED
金剛石探針 0.5um 到 25um 可選
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暫無數(shù)據(jù)！
臺階儀的工作原理介紹？臺階儀的使用方法,？臺階儀多少錢一臺,？臺階儀使用的注意事項臺階儀的說明書有嗎？臺階儀的操作規(guī)程有嗎,？臺階儀的報價含票含運費嗎,？臺階儀有現(xiàn)貨嗎？臺階儀包安裝嗎,？
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