該測(cè)試系統(tǒng)為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),具有測(cè)試快速準(zhǔn)確,、操作簡(jiǎn)單,、可靠性高度特點(diǎn),能實(shí)現(xiàn)了200-250nm范圍內(nèi)**光譜響應(yīng)度、量子效率,、歸一化探測(cè)率,、信號(hào)電壓、噪聲電壓,、響應(yīng)時(shí)間等參數(shù)隨波長(zhǎng),、頻率、外加偏壓的變化曲線的全自動(dòng)測(cè)試,。
技術(shù)指標(biāo)
- 光譜范圍:200-2500nm(可根據(jù)實(shí)際需要選擇)
- 光電源電流漂移:< 0.04%/h
- 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:±02nm
- 光譜分辨率:± 0.1nm
- 光譜帶寬:0.2-10nm 可調(diào)
- 光斑:15mm,,各點(diǎn)不均勻性<1%
- 偏壓源:電壓:200uV-505V;電流:20fA-200mA
- 系統(tǒng)噪聲:< 2mV
- 系統(tǒng)重復(fù)性:< 2%
- 激光監(jiān)視光路:CCD 圖像監(jiān)視,,可對(duì)極小光電探測(cè)器進(jìn)行精確定位,。