本系統(tǒng)可以測試半導體材料或其他發(fā)光特性材料在激光激發(fā)下產(chǎn)生的熒光光譜。通常情況下采用紫外或近紫外激光激發(fā)半導體材料(如GaN、Zno,、CdTe 等)產(chǎn)生熒光,;或用可見、紅外激光器激發(fā)稀土參雜的玻璃或晶體材料產(chǎn)生的熒光,,通過對其熒光光譜的測量,,分析材料能帶結(jié)果等特征。
系統(tǒng)型號 | 系統(tǒng)特點 |
7-PLSpec I | 常溫掃描型 |
7-PLSpec II | 低溫掃描型 |
7-PLSpec M | Mini 攝譜型 |
技術(shù)指標
- 光譜范圍:200-2500nm (可根據(jù)實際需要選擇)
- 波長準確度:±0.2nm
- 光譜分辨率:±0.1nm
- 光譜帶寬:0.2-10nm 可調(diào)
- 光源波長:224nm,、248nm,、266nm、325nm,、488nm,、532nm、946nm,、1946nm等可選
- 可升級做透射,、反射光譜測試