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SEM 高溫疲勞試驗機(jī)
SEM高溫疲勞試驗機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗機(jī)。用于在疲勞試驗過程中動態(tài)時實觀測樣品表面的微觀破壞,??蛇M(jìn)行拉-拉、拉-壓,、三點彎曲疲勞試驗及800℃以下的高溫試驗。
· 電子顯微鏡SEM與試驗機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu),,具有高防振效果,。
· 可以在利用SEM觀察的同時,進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗,。
· 可以在常溫~800℃溫度范圍內(nèi),,重復(fù)向樣品加載。
· 試驗過程中,,可以使SEM的視野與樣品的變形同步,。
· 試驗載荷:±5KN
· 大位移:±10mm
· 試驗溫度:室溫~800℃
· SEM分辨率:3.4nm
· 放大倍率:×20~30萬倍
· 觀測范圍:6mm~16mm
適合金屬、陶瓷,、巖石材料的常溫,、高溫疲勞性能測試和樣品表面形貌、裂紋擴(kuò)展的測試,。
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