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LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術向高精度,、高準確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破,。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下,,均勻剝蝕樣品成透明狀,這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性,,這是采用長脈沖激光技術無法達到的,。
LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破,。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下,,均勻剝蝕樣品成透明狀,這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性,,這是采用長脈沖激光技術無法達到的,。
減少樣品的依賴性,比霧化技術精度高
J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高,,且沒有熱效應,。而采用長激光脈沖的系統(tǒng),會發(fā)生的多種熱過程,,改變剝蝕樣品的數(shù)量和化學成分,,如改變熱特性等;并且無論采用什么波長,,如266nm,, 213nm 或193nm, 為了準確定量的分析元素和同位素,,需要高精度的,、與測量樣品相匹配的標準物質(zhì)。
J200LA-fs剝蝕均勻一致,,剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性,,無需高度匹配的標準物質(zhì),也能進行高精度,、定量LA-ICP-MS測量,。
均勻一致的粒徑確保高精度、高靈敏度測量
長激光脈沖系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒大(常大于數(shù)微米),,駐留在輸送管中,,導致運輸效率低,并且降低了分析的靈敏度,。大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產(chǎn)生峰值,,導致測量精度降低。J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致,,且尺寸分布合理,,一般在10-200nm,運輸效率高,。這些到達ICP源的顆粒能完全被消解,,產(chǎn)生穩(wěn)健、恒定的瞬時ICP-MS信號,。用戶可完全依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS 系統(tǒng),。
元素和同位素的分餾*少
在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程:(1)非化學計量物質(zhì)剝蝕的熱過程,;(2)大樣品顆粒在ICP源不完全消解。J200施加高能激光的時間比長脈沖系統(tǒng)短,,*短達1/10000,。J200LA-fs系統(tǒng)通過非熱過程,施加超高激光輻射剝蝕樣品,,產(chǎn)生的顆粒能在ICP源完全消解,,確保在測量過程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號,。
高精度元素和同位素測量的保障
ASI公司的技術團隊擁有30多年激光剝蝕技術的基礎研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景,,也是世界**在LA-ICP-MS系統(tǒng)中采用飛秒激光脈沖,,并實現(xiàn)其**性能的公司,。J200LA-fs系統(tǒng)能完成**挑戰(zhàn)性的化學分析工作。來自ASI公司嚴謹?shù)目蒲泻图夹g支持是其它技術無法達到的,。使用ASI公司的產(chǎn)品,,意味著能直接和世界**的研究團隊交流,并得到專業(yè)的技術支持,。
強大的∫ Integra軟件與ICP-MS儀器協(xié)同操作
J200LA-fs系統(tǒng)軟件∫ Integra功能直觀,、帶圖形界面,易瀏覽不同的樣品區(qū)域,,設立靈活的采樣方式,。∫ Integra采用雙向通信控制,協(xié)同操作ICP-MS儀器達到了****的水平,。∫ Integra軟件讓用戶通過基本單元“處方”來制定各個硬件工作的時間序列命令集,,并通過串聯(lián)多個“處方”,讓系統(tǒng)自動完成各個測量工作,。
硬件控制簡單,、方便
∫ Integra軟件使J200LA-fs用戶簡單、方便地操作硬件部件,。只需簡單點擊tab鍵,,用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統(tǒng),、光模塊,、3-D操作臺、自動高度調(diào)節(jié)傳感器,、樣品室等部件的工作狀態(tài),,不同用戶組可賦予不同的使用權限。
獲取勾邊樣品圖像,,制定復雜的激光采樣模式
∫ Integra 軟件提供大的視頻窗口,,顯示勾邊的,、詳細的樣品圖像。用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式,,包括光柵線狀,、曲線、隨機點,、任意尺寸網(wǎng)格或預先編制的模式,。即使是形狀怪異的結構,采用∫ Integra的模式工具也可選定,,并分析其元素或同位素,。
雙照相系統(tǒng)掃描樣品
J200LA-fs 的兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像。∫ Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像,,然后在圖像上掃視不同的位置,,高倍放大選定點。
智能氣流控制,,**限度地獲取ICP-MS等離子體的穩(wěn)定性和分析性能
∫ Integra具備智能輸送和補充氣控制功能,,使每種氣體按預定的方式達到設定值,同步開關確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài),,防止等離子體火焰噴出,。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。
“處方”功能讓系統(tǒng)自動運行
用戶可將多個硬件部件運行命令集合,,并按時間順序排列,,形成∫ Integra“處方”。制定完成的處方,,以后也可以調(diào)用,。多個處方可編制成組,自動順序執(zhí)行,,使測量工作高度自動化,。
可簡單采用“recall”命令調(diào)用“處方”,重復實驗,,也可復制部分“處方”,,結合新的命令,完成新的采樣過程,。
主要技術指標
激光器 | 工業(yè)級高頻Ytterbium diode飛秒激光器,,343 nm和1030 nm,頻率可調(diào),,**10KHz |
能量控制 | 連續(xù)可調(diào)光學衰減器,,集成激光能量監(jiān)測單元 |
激光光閘 | 自動光閘保證激光能量穩(wěn)定 |
激光脈沖能量(激光頭輸出) | **150μJ/脈沖 @ 343 nm* ,** 1mJ/脈沖 @ 1030 nm |
激光光斑大小控制 | 3-70微米,,結合了自動光束擴展器和狹縫成像 光斑大小范圍取決于不同設備的型號,,可用戶自定義光斑大小范圍 |
自動X-Y軸 | 100 mm X 100 mm 行程范圍,,分辨率0.2微米 |
自動Z軸 | 35mm行程范圍,Z軸可以實現(xiàn)樣品自動高度調(diào)整,,分辨率0.5微米 |
剝蝕點定位 | 紅色激光具有更好的信號精度,,ASI的自動對焦**技術 |
樣品圖像 | 高分辨率的雙CMOS鏡頭,用于高倍放大和大視野預覽,,支持光學變焦 |
樣品成像光源 | 泛光LED燈,,同軸反射光和透明光源,正交十字光 |
氣體控制 | 雙路數(shù)字流量控制器,,可選第三個流量控制器(用于氮氣或其他氣體) 電控兩向和三向閥,,ASI**氣體控制單元 |
樣品室 | Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片,適合不同大小的樣品 Vertex™樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運送能力 可用戶自定義樣品固定裝置,,ASI**LIBS測量兼容性 |
與ICP-MS通訊 | 在J200和ICP-MS之間實現(xiàn)雙向控制 |
LIBS檢測器 (僅適用于Tandem系統(tǒng)) | Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器 |
儀器軟件 | Axiom LA系統(tǒng)操作軟件,,ASI**的TruLIBS™發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫(用于Tandem系統(tǒng)) Clarity Femto數(shù)據(jù)處理軟件(處理LA-ICP-MS和LIBS的數(shù)據(jù),進行定量計算/物質(zhì)分類) |
激光安全等級 | 一級激光產(chǎn)品,,樣品加載區(qū)域有光學安全隔離板,,激光自鎖保護裝置 |
系統(tǒng)尺寸 | 70” (長) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機) 75” (長) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器) |
重量 | 600 lbs [272Kg](僅LA主機),;600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器) |
供電要求 | 110-240 VAC,,50/60 Hz, 5A,, 保險10A |
質(zhì)保 | 所有硬件和軟件質(zhì)保一年,,飛秒激光器質(zhì)保兩年 |
認證 | CE認證 |
可選項 | LA升級為Tandem系統(tǒng) |
延保 | 可簽署多年質(zhì)保和服務協(xié)議 |
* 通常作用在樣品表面的激光能量大約是20-80 μJ
應用案例
植物樣品表層及深層元素分布
采用飛秒LA-ICP-MS系統(tǒng)還可以對植物葉片進行深度的剖析。測量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況,。實驗使用飛秒激光器,,10個脈沖,脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內(nèi)部,。
大米和糙米樣品外殼及內(nèi)部砷元素的分布圖譜
大米是中國,、韓國和日本等東亞諸國的主要農(nóng)作物,大米中砷元素含量超標引發(fā)了很多食品安全問題,。國際食品法典委員會標準中也明確規(guī)定鉛含量不得大于0.2mg/kg ,,鎘含量不得大于0.1mg/kg,但仍然對砷元素含量無規(guī)定,。為了建立相關標準,,韓國科學技術研究院搜集了韓國市場上常見的100種大米和糙米樣品,分析其中砷元素的含量及分布作為相關標準制定的科學依據(jù),。研究結果表明,,砷元素主要分布在糙米和大米樣品的表面,并存在砷元素含量明顯的向中心遞減趨勢,。結論:砷元素主要分布在大米和糙米的表面,,打磨是降低砷元素含量的主要手段,。
產(chǎn)地:美國
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