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產(chǎn)地
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產(chǎn)品簡介
新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進(jìn)的檢測(cè)儀器功能相結(jié)合,提供**的重復(fù)性,、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性,。 SediGraph III通過X射線吸收測(cè)量樣品質(zhì)量,利用國際標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測(cè)量粒度,,無需建模,。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為全球造紙、陶瓷,、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn),。
技術(shù)特點(diǎn)
· 檢測(cè)范圍:0.1 到300 μm
· 全顆粒度測(cè)試,無需建模
· 選配的MasterTech 052自動(dòng)進(jìn)樣器提供多至18個(gè)樣品的自動(dòng)進(jìn)樣,,無需人為介入
產(chǎn)品應(yīng)用
適合于各種無機(jī)材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物,,例如:高嶺土、重鈣,、輕鈣,、粘土、泥漿等材料的分析,,是高嶺土,,重鈣,輕鈣粒徑的標(biāo)準(zhǔn)分析儀器,。
暫無數(shù)據(jù),!