參考價格
面議型號
品牌
產(chǎn)地
美國樣本
暫無看了自動Χ光沉降粒度分析儀SediGraph III 5120的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
產(chǎn)品簡介
新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進的檢測儀器功能相結(jié)合,,提供**的重復性、準確性和重現(xiàn)性,。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量,,利用國際標準的沉降法測量粒度,無需建模,。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為全球造紙,、陶瓷、磨料等數(shù)個行業(yè)的金色標準,。
技術(shù)特點
· 檢測范圍:0.1 到300 μm
· 全顆粒度測試,,無需建模
· 選配的MasterTech 052自動進樣器提供多至18個樣品的自動進樣,無需人為介入
產(chǎn)品應用
適合于各種無機材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物,,例如:高嶺土,、重鈣、輕鈣,、粘土,、泥漿等材料的分析,是高嶺土,,重鈣,,輕鈣粒徑的標準分析儀器。
暫無數(shù)據(jù),!