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掃描電遷移率粒徑譜儀

SMPS+C和SMPS+E雙系統(tǒng)

GRIMM SMPS+C系統(tǒng)采用傳統(tǒng)的差分電遷移率粒徑分級器（DMA）和凝聚核粒子計數(shù)器（CPC）技術結合,，兩種不同型號的DMA可以同時檢測5—350納米或10—1100納米的氣溶膠的粒徑分布,。根據(jù)應用不同,，可以選配移動式：CPC 5403,，實驗室固定式：CPC 5416 或 19英寸標準機柜式：CPC 5421。系統(tǒng)每次開機時,，自動自檢以確保系統(tǒng)準確性,，自檢內容包括泄露測試、DMA 型號確認,、 DMA 電壓測試,、CPC 狀態(tài)檢查等。自檢通過后,，軟件自動控制采樣,、測量和數(shù)據(jù)記錄。

測量參數(shù) SMPS+C

1.檢測粒徑范圍：5-350 納米（M-DMA）,；

10-1100 納米(L-DMA)

2.檢測濃度范圍： 0--10⁸ /cm³

3.粒徑通道：*多255通道

4.CPC D₅₀粒徑： 4 納米

5.CPC 響應時間： 4 秒

GRIMM SMPS+E系統(tǒng)采用差分電遷移率粒徑分級器（DMA）和法拉第靜電計（FCE）技術結合,，配合3種不同的DMA，粒徑檢測下限可以低至1納米,，檢測數(shù)量濃度高達10⁹個/cm³,。