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單波長色散X射線熒光光譜儀
Monochromatic Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer(MWD XRF)
特點:
靈敏:高選擇性檢測硫元素,,檢測限達到0.4PPM,是針對硫元素*靈敏的X射線熒光光譜儀
穩(wěn)定:XFS(X-Ray Fixed System)**技術,,光路工廠精密調諧后,,不再產生位移或偏差,,**限度的保證了儀器的長期穩(wěn)定性
快速:單個樣品準備時間小于10秒鐘;單個樣品分析時間*長300秒,;開機10分鐘內即可測試樣品
經(jīng)濟:單個樣品消耗小于4元/樣品,無氣體,、溶劑等消耗
方便:使用ESP:Easy Sample Prepare裝置,,使得樣品杯與膜成型變得簡單,;長時間使用無硬件更換;無需經(jīng)常校正標準曲線
原理:X射線光管出射譜是由連續(xù)譜線和特征譜線組成,,初級全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線光管出射譜中的高強度的特征X射線,從而入射到樣品的X射線具有極好的單色性,,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產生的熒光X射線(線光譜)和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外,,不存在連續(xù)線散射背景,。單色入射Cr:Kα線激發(fā)樣品中的硫Kα線,硫Kα線進一步被大面積全聚焦雙曲面彎晶收集,,聚焦到探測器中檢出,從而實現(xiàn)對樣品中硫元素高選擇性和高靈敏度檢測,。
*低檢出限LLD:0.4ppm
測量范圍:0.4ppm--5%
測量時間:60秒--300秒
重復性:Sn-1≤0.2ppm(2ppm),,0.5ppm(10ppm),2.5ppm(50ppm)
北京安科慧生科技有限公司出品
暫無數(shù)據(jù)!