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單波長色散X射線熒光光譜儀
Monochromatic Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）
特點(diǎn)：
靈敏：高選擇性檢測硫元素,，檢測限達(dá)到0.4PPM,，是針對硫元素*靈敏的X射線熒光光譜儀
穩(wěn)定：XFS（X-Ray Fixed System）**技術(shù)，光路工廠精密調(diào)諧后,，不再產(chǎn)生位移或偏差,，**限度的保證了儀器的長期穩(wěn)定性
快速：單個(gè)樣品準(zhǔn)備時(shí)間小于10秒鐘；單個(gè)樣品分析時(shí)間*長300秒,；開機(jī)10分鐘內(nèi)即可測試樣品
經(jīng)濟(jì)：單個(gè)樣品消耗小于4元/樣品,，無氣體、溶劑等消耗
方便：使用ESP：Easy Sample Prepare裝置,，使得樣品杯與膜成型變得簡單,；長時(shí)間使用無硬件更換；無需經(jīng)常校正標(biāo)準(zhǔn)曲線
原理：X射線光管出射譜是由連續(xù)譜線和特征譜線組成,，初級全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線光管出射譜中的高強(qiáng)度的特征X射線,，從而入射到樣品的X射線具有極好的單色性，因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線（線光譜）和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外,，不存在連續(xù)線散射背景,。單色入射Cr:Kα線激發(fā)樣品中的硫Kα線，硫Kα線進(jìn)一步被大面積全聚焦雙曲面彎晶收集,，聚焦到探測器中檢出,，從而實(shí)現(xiàn)對樣品中硫元素高選擇性和高靈敏度檢測。
*低檢出限LLD：0.4ppm
測量范圍：0.4ppm--5%
測量時(shí)間：60秒--300秒
重復(fù)性：Sn-1≤0.2ppm（2ppm），0.5ppm（10ppm）,，2.5ppm（50ppm）
北京安科慧生科技有限公司出品
暫無數(shù)據(jù),！
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