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EDAX Orbis 微束X射線熒光能譜儀(Micro XRF)

Orbis可以對各種類型,、尺寸的樣品進(jìn)行先進(jìn)的無損元素分析，不需樣品制備,，不需涂層,。它可以對多元素進(jìn)行快速同步的X射線檢測，含量靈敏度從百萬分之幾到100%,。用戶可以對小樣品進(jìn)行元素分析,，如顆粒，碎片和夾雜物,，也可以對大樣品進(jìn)行自動多點和成像分析,。

Orbis是一款臺式儀器，可以在空氣或低真空條件下，測量從Na到BK的元素,。因為X射線具有穿透力和較大的光斑,，Orbis比掃描電子顯微鏡更適合分析較大特點的樣品。Orbis Vision 軟件強大易用,，可提供精確的元素分析,。

創(chuàng)新的X射線光學(xué)/視頻器件幾何設(shè)計

Orbis安裝了垂直于樣品的先進(jìn)的X射線光學(xué)器件和高質(zhì)量的視頻像機，適合更大范圍的樣品形狀,。這種創(chuàng)新的設(shè)計提供了真正的“你所看到的就是你所分析的”的能力,。由于X射線束的阻擋而導(dǎo)致的錯誤測量，可以很容易地被檢測到,。如果相機的視野受到阻擋,，X射線也會受到阻擋。當(dāng)測量有地形的樣品時,，可以消除X射線束的陰影,。此外，在儀器設(shè)計的工作距離外,，定性分析更容易,。

廣泛的應(yīng)用

Orbis適合各種應(yīng)用，包括刑事取證,、工業(yè)質(zhì)量控制和無損檢測,，還有材料、電子和地質(zhì)樣品分析,。

Orbis 型號

Orbis有兩個型號：Orbis SDD 和 Orbis PC SDD,。兩個型號都使用Orbis Vision 軟件，都有多個選項,，覆蓋廣泛的需要高精度非破壞性元素分析的應(yīng)用,。

Orbis SDD X射線熒光能譜儀

Orbis SDD X射線熒光能譜儀非常適合需要分析大顆粒或大特征的應(yīng)用,，例如刑事取證和工業(yè)質(zhì)量控制,。該儀器配備行業(yè)**的電制冷探測器（SDD）和10倍/100倍彩色攝像機，配備了300μM單毛細(xì)管光學(xué)器件,，入射束過濾系統(tǒng),，精密電動XYZ樣品臺和DPP分析器。

Orbis的設(shè)計消除了樣品地形阻礙X射線束帶來的不正確樣品分析,。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

● 銠管（50kV,，50W）

● 300μM單毛細(xì)管光學(xué)器件

● 自動入射束濾光系統(tǒng)（打開位置，6個過濾器,，快門）

● 雙CCD相機：10×,，彩色,；100x，彩色

● 先進(jìn)的30mm2電制冷探測器（SDD）

● 精密電動XYZ樣品臺

● 樣品室：真空或空氣

● 電子數(shù)字信號分析儀

● 操作軟件：自動分析和定量程序,，包括：

　1. 有標(biāo)樣或無標(biāo)樣基本參數(shù)分析

　2. 使用基本參數(shù)分析在輕元素矩陣中進(jìn)行痕量元素分析

　3. 使用標(biāo)樣校準(zhǔn)進(jìn)行半經(jīng)驗分析

選項：

● 樣品室視窗（124mm × 124mm可視范圍）

● 先進(jìn)的50mm2硅漂移探測器（SDD）

● 鉬管（50kV,，50W）

● 100μM單毛細(xì)管光學(xué)器件（替代300μM單毛細(xì)管光學(xué)器件）

● 與單毛細(xì)管光學(xué)器件連接的自動準(zhǔn)直儀（1 mm和2 mm），通過軟件控制選擇

● 軟件：譜面分布,，圖像處理,，線掃描，涂層分析,，譜匹配,，合金識別和離線數(shù)據(jù)處理軟件

Orbis PC SDD X射線熒光能譜儀

Orbis PC SDD X射線熒光能譜儀是Orbis SDD的升級版，非常適合分析小樣本或快速測量,。該儀器配備先進(jìn)的電制冷探測器（SDD）,，帶3倍數(shù)碼變焦的增強彩色攝像機，和一個30微米的多毛細(xì)管光學(xué)器件,。Orbis PC SDD的樣品定位器采用升級的XYZ樣平臺,，具有更高的定位精度。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

● 銠管（50kV,，50W）

● 30μM超高強度多毛細(xì)管光學(xué)器件(FWHM @ MoKα)

● 自動入射束濾光系統(tǒng)（打開位置,，6個過濾器，快門）

● 雙CCD相機：10×,，彩色,；75×，彩色,，帶3×數(shù)字變焦

● 先進(jìn)的30mm2硅漂移探測器（SDD）,，無需液氮致冷

● 高精密電腦控制XYZ樣品臺

● 樣品室：真空或空氣

● 電子數(shù)字信號分析儀

● 操作軟件：自動分析和定量程序，包括：

　1. 有標(biāo)樣或無標(biāo)樣基本參數(shù)分析

　2. 使用基本參數(shù)分析在輕元素矩陣中進(jìn)行痕量元素分析

　3. 使用標(biāo)樣校準(zhǔn)進(jìn)行半經(jīng)驗分析

選項：

● 樣品室視窗（124mm × 124mm可視范圍）

● 先進(jìn)的50 mm2硅漂移探測器（SDD）

● 鉬管（50kV,，50W）

● 與單毛細(xì)管光學(xué)器件連接的自動準(zhǔn)直儀（1 mm和2 mm）,，通過軟件控制選擇

● 軟件：譜面分布，圖像處理,，線掃描,，涂層分析，譜匹配,，合金識別和離線數(shù)據(jù)處理軟件

骨化石Ca-P-Si元素面分布圖，使用紅,、綠和藍(lán)色混合器創(chuàng)建覆蓋,。