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簡介
美國應(yīng)用光譜公司 (Applied Spectra Inc.)專注研究激光剝蝕和光譜分析技術(shù)的高技術(shù)公司。 研發(fā)人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的研究人員,。 公司總裁Richard Russo 博士為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的資深科學(xué)家,, 從事激光剝蝕及激光光譜元素分析技術(shù)三十多年, 創(chuàng)造性的將激光剝蝕技術(shù) (Laser Ablation,, LA) 及激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (Laser Induced Breakdown Spectroscopy,, LIBS)相融合, 研發(fā)了J200系列激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)及光譜分析系統(tǒng),。
J200 納秒激光剝蝕進(jìn)樣及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)實現(xiàn)了LIBS與LA-ICP-MS的同時測量,,并具備多種測量功能: 可測量常量, 微量和同位素 (與ICP-MS串聯(lián)),;分析有機元素及輕元素,; 元素三維空間分布;校正ICP-MS質(zhì)譜信號,。主要用于地質(zhì)礦物,,土壤,植物,,合金,,新能源材料 (例如鋰電池材料), 刑偵證據(jù)等樣品的剝蝕進(jìn)樣及化學(xué)成分分析,。
J200 LA 激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)可與市面上的四級杠質(zhì)譜儀,, 飛行時間質(zhì)譜儀和高分辨質(zhì)譜儀串聯(lián)使用。
J200 LA 激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)特色
高穩(wěn)定Q開關(guān),, 短脈沖Nd:YAG 激光 ,,可選擇多波長 < 5 nsec at 213 nm ,創(chuàng)新的模組化設(shè),,為獨立 LA,, LIBS, LA - LIBS 復(fù)合的系統(tǒng)設(shè)計 ,,因分析需求,,提供三種LIBS 檢測器選擇 ,激光剝蝕均勻且一致性的LA系統(tǒng)
自動樣品高度調(diào)整功能
J200激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)采用ASI**技術(shù):剝蝕導(dǎo)航激光和樣品高度自動調(diào)整傳感器相結(jié)合,,解決了若樣品表面凹凸不平而剝蝕不均,、導(dǎo)致元素含量值誤差大的問題,;激光能量穩(wěn)定閥確保了到達(dá)樣品表面的激光能量均勻,使所有采樣點的激光燒蝕均勻一致,;3-D全自動操作臺**行程可達(dá)100mmx100mmx36mm,,XY行程分辨率0.2μm,Z行程分辨率0.1μm,, 優(yōu)于其它任何同類產(chǎn)品
穩(wěn)定激光能量的光閘設(shè)置
高分辨雙CMOS相機系統(tǒng),, 可用于寬視野觀測樣品表面特征 應(yīng)用光譜公司的 Flex 樣品室內(nèi)置氣體模組可優(yōu)化氣流和顆粒清潔能力,滿足不同測量要求,,先進(jìn)的微集氣管設(shè)計,,可盡可能的減少排氣,防止集結(jié)剝蝕顆粒,,消除記憶影響,。
雙通道高精度質(zhì)量流量控制器和電子控制閥
Axiom LA 軟件系統(tǒng)
軟件可整合控制硬件組件及ICP-MS 同pu步操作,輕松實現(xiàn)繁雜的激光采樣與分析模式 ,,強大的數(shù)據(jù)分析工具用于繁雜的 LA-ICP-MS 串聯(lián)光譜分析
靈活的分析方法:全分析,,夾雜物分析,斑點分析,,深度分析和元素分映像
維護(hù)成本低
可擴充升級LA – LIBS 復(fù)合系統(tǒng)
可擴充升級飛秒 LA 系統(tǒng)
暫無數(shù)據(jù),!