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上海儀電物光WKL-722粉塵形貌分散度測(cè)試儀(配國(guó)產(chǎn)顯微鏡)
將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)相結(jié)合,,由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī),、觸摸式電腦和顆粒圖像處理分析軟件組成,。該系統(tǒng)通過(guò)專(zhuān)用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦,,通過(guò)專(zhuān)用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理,具有直觀,、形象,、快速和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。
1,、圖像多種處理方法:影像增強(qiáng),、圖像疊加、局部提取,、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié),、自動(dòng)分割等幾十種功能,。
2、可直接對(duì)粉塵粒徑的大小,、形狀,、周長(zhǎng)、面積以及分布均勻狀況等各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行計(jì)算分析,,并按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)將粒徑分布定義為四個(gè)區(qū)域,,即:≤2um、2um~5um,、5un~10um,、>10um,直接輸出檢測(cè)報(bào)告,,也可以根據(jù)用戶(hù)要求進(jìn)行自定義分級(jí),。其操作方法簡(jiǎn)單、實(shí)用,、快捷,。
3、通過(guò)先進(jìn)的攝像技術(shù),,不僅可以保持粉塵顆粒的原型,,而且在對(duì)重疊粉塵的處理方法上,也采用了先進(jìn)的圖像分割技術(shù),。
上海儀電物光WKL-722粉塵形貌分散度測(cè)試儀(配國(guó)產(chǎn)顯微鏡)
儀器型號(hào) | WKL-722 |
測(cè)量范圍 | 0.1~3000(微米) |
總放大倍數(shù) | 8000倍 |
**分辨率 | 0.1微米/像素 |
重復(fù)性 | 誤差≤±1% |
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) | 500萬(wàn)像素 |
數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 | 電腦另配 |
通信接口 | USB |
操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可 |
電源 | AC220V ±10% 200W |
儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
儀器凈重 | 15kg |
暫無(wú)數(shù)據(jù),!