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上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀（配國產(chǎn)顯微鏡）
將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡,、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成,。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理,，具有直觀,、形像、測量范圍寬等特點,。
1,、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加,、局部提取,、定倍放大、對比度,、亮度調(diào)節(jié),、顆粒定位、自動分割等幾十種功能,。
2,、具有圓度、曲線,、周長,、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量,。
3,、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖,。
上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀（配國產(chǎn)顯微鏡）
儀器型號 | WKL-702 |
測量范圍 | 0.1～3000（微米） |
總放大倍數(shù) | 8000倍 |
**分辨率 | 0.1微米/像素 |
重復(fù)性 | 誤差≤±1％ |
自動分割速度 | ≤1秒 |
數(shù)字攝像機(CCD) | 500萬像素 |
數(shù)據(jù)儲存 | 電腦另配 |
通信接口 | USB |
操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可 |
電源 | AC220V ±10％ 200W |
儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
儀器凈重 | 15kg |
暫無數(shù)據(jù)！
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